Occasion JEOL JSM 6700F #293813761 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie précise d'échantillons dans une gamme d'applications. Il est équipé d'un détecteur STEM pour l'imagerie haute résolution et d'autres détecteurs pour l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDX). JEOL JSM 6700 F a une grande taille de chambre conçue pour accueillir un échantillon jusqu'à 200mm de diamètre et 200mm de hauteur. La tension maximale d'accélération est de 60kV, avec un courant de faisceau de 10 milli-ampères à 30kV et un courant de faisceau de 5 milli-ampères à 60kV. La conception optique avancée de l'unité utilise un système de déflecteur de faisceau révisé, ce qui donne un contraste et une résolution d'image supérieurs. Le mode d'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB) permet aux utilisateurs d'obtenir des images de contraste élevé sur de larges surfaces. Il est équipé d'une source d'électrons quadruple de type émission de champ qui fournit une émission de canon stable et fiable et un levier de pointage non magnétique sans hydrocarbures de conception unique pour l'alignement des échantillons. JSM 6700F a la capacité d'acquérir des images ultra-haute résolution avec un faible courant de faisceau d'électrons en raison d'une minimisation de l'aberration sphérique. Divers modes d'imagerie sont disponibles pour un contraste optimal de l'observation, tels que les électrons secondaires réglables, les électrons rétrodiffusés coaxiaux et les émissions thermiques. L'unité est équipée d'un étage d'inclinaison supplémentaire qui permet aux utilisateurs de mesurer jusqu'à +/- 5 °. Le stéréoscope Smart Multipurpose unique est une fonctionnalité futuriste offrant un aperçu supplémentaire des échantillons avec le TOM 3D (mode d'observation incliné) ou l'imagerie conventionnelle dans le SEM. Le logiciel de contrôle JSM 6700 F est conçu pour être convivial avec un positionnement automatisé des échantillons et un réglage fin de la focalisation. Sa procédure automatique de faisceau d'électrons focalisés permet d'optimiser les images, l'analyse des matériaux et d'autres techniques d'analyse graphique, tandis que son étage contrôlé par PC permet une analyse rapide et facile des échantillons. De plus, l'unité est équipée d'une option de fraisage ionique conçue pour préparer des sections transversales et des échantillons minces pour l'imagerie topographique. JEOL JSM 6700F offre des performances supérieures dans l'imagerie SEM d'une grande variété d'échantillons à des fins de recherche et industrielles. Il offre une gamme de fonctionnalités pour améliorer les capacités d'imagerie et les performances analytiques.