Occasion JEOL JSM 6700F #46262 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) avec une large gamme de capacités. Le SEM est conçu pour fournir les capacités d'imagerie et d'analyse de la plus haute résolution, et utilise une combinaison de plusieurs technologies pour atteindre ses performances impressionnantes. JEOL JSM 6700 F est équipé d'une source d'électrons à émission de champ (FEG), qui offre une luminosité et une résolution supérieures aux sources d'électrons thermioniques traditionnelles. Cette fonctionnalité permet d'effectuer une imagerie à plus haute résolution et une analyse élémentaire sur une plus grande variété d'échantillons. L'équipement est également équipé d'un étage tridimensionnel réglable pour plus de flexibilité. Cette étape permet une manipulation précise des échantillons et de l'imagerie, ainsi que des fonctions d'analyse automatisée des zones. Le microscope est également équipé d'un détecteur d'image réfléchie par électrons (REPIM), conçu pour détecter les électrons de haute énergie réfléchis à partir de l'échantillon. Cette fonctionnalité permet l'imagerie d'un plus large éventail de morphologies et donne des images de contraste élevé à des résolutions supérieures à celles atteignables avec d'autres détecteurs. Le détecteur REPIM permet également une analyse élémentaire rapide, facile et précise d'un échantillon en fournissant un profil d'élément mieux défini. Le système est également équipé d'un processeur d'impulsions numériques (DPP), capable de détecter et de traiter des électrons délicats et de fournir une imagerie rapide, fiable et précise corrélée au temps pour l'analyse dynamique des échantillons. Le DPP est également capable de détecter des électrons délicats et de fournir une analyse stable pour un fonctionnement continu. D'autres caractéristiques de l'unité comprennent un ordinateur intégré avec connectivité réseau haute vitesse, un affichage de paramètres en temps réel, zoom d'image et plus encore. Ces fonctionnalités se combinent pour donner des performances puissantes et fiables à JSM 6700F. JSM 6700 F est un microscope électronique à balayage puissant et fiable qui permet l'imagerie haute résolution et l'analyse élémentaire de divers échantillons. La machine est équipée d'un large éventail de caractéristiques qui en font un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles. Sa combinaison de technologies FEG, REPIM et DPP ainsi que ses contrôles conviviaux permettent une analyse complète des échantillons et en font un outil polyvalent et fiable pour les scientifiques et les ingénieurs.