Occasion JEOL JSM 6700F #9226660 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un type de microscope électronique à balayage (SEM) conçu et fabriqué par JEOL Ltd., leader international des instruments d'analyse et de la technologie optique électronique. Il s'agit d'un SEM haute résolution conçu spécifiquement pour l'imagerie avec un faisceau d'électrons à l'échelle du nanomètre. Le JEOL JSM 6700 F est équipé d'un canon à émission de champ magnétique à deux pôles, permettant à une source d'électrons à haute luminosité d'offrir des performances et une résolution ultimes. La gamme de tension accélératrice haute tension est de 0,1 kV à 30 kV, fournissant une large gamme de la compatibilité de la longueur d'onde du spectre et des températures de fonctionnement allant de -20 degrés Celsius à + 5 degrés Celsius, ce qui le rend adapté à une large gamme d'applications. Le JSM 6700F est équipé d'une source d'électrons à champ froid (CFE) qui assure une luminosité et une stabilité maximales lorsqu'il fonctionne à basse tension. Il dispose également d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) avec un diamètre spot de 0,14 nanomètre qui permet l'imagerie de petits échantillons, tels que les structures moléculaires. Ce microscope est capable de produire des images à haute résolution avec des grossissements élevés, un balayage à grande vitesse et des performances sonores faibles. Les fonctionnalités d'imagerie avancées, y compris la correction automatique de la focalisation et de l'inclinaison, les stigmates automatiques de haute précision et la couture automatisée des images, garantissent que même des échantillons complexes peuvent être imagés avec une grande précision, fournissant des vues 3D détaillées. Le JSM 6700 F est également compatible avec une gamme de détecteurs, y compris les détecteurs STEM et cathodoluminescence, ainsi qu'un détecteur de rayons X dispersif d'énergie. Afin d'assurer flexibilité et polyvalence, le microscope peut également être équipé d'une chambre d'environnement pour l'imagerie d'échantillons à des températures allant de -100 ° Celsius à + 100 ° Celsius. En outre, JEOL JSM 6700F comprend des capacités d'imagerie numérique intégrées, permettant à l'utilisateur d'enregistrer, stocker et analyser les images facilement. JEOL JSM 6700 F est un microscope électronique à balayage idéal avec les caractéristiques, les capacités et les performances nécessaires pour représenter une grande variété d'échantillons à l'échelle nanométrique. Avec ses fonctionnalités d'imagerie avancées et sa flexibilité, JSM 6700F est une solution d'imagerie idéale pour les chercheurs et les laboratoires d'analyse dans de nombreuses industries.