Occasion JEOL JSM 6700F #9233189 à vendre en France

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ID: 9233189
Style Vintage: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: 25x - 650,000x Sample size: 40 mm (D) x 20 mm (H) Movement range: X: 70 mm Y: 50 mm Z: 1.5-25 mm Tilt: -5°-60° Rotation: 0°-360° Voltage: 0.5 kV - 30 kV (in 0.1 kV Step) OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Si-Li Detector Window: 10 mm² ULVAC G-100DC Vacuum pump 120 ml/min PHOENIXTEC C-6000 UPS, 6 kVA EYELA CA-1111 Circulating chiller Range: -20°C to 30°C Watt: 1200 W (1030 kcal/h) HP / HEWLETT-PACKARD XW4300 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD DC 7100 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD L1910 LCD Monitor, 19" HP / HEWLETT-PACKARD LE1911 LCD Monitor, 19" 2006 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6700F (SEM) combine d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse dans un seul instrument. Il est capable de fournir des images de haute qualité à de grands agrandissements. Le système est équipé d'un canon à émission de champ froid (FEG), qui est la dernière technologie en matière de conception de canon à électrons. Ce FEG fournit un faisceau d'électrons haute résolution brillant et permet l'utilisation d'énergies d'électrons allant de 1kV à 30kV, le rendant adapté à une variété de matériaux. Il offre également une imagerie haute résolution avec sa résolution de balayage de 0.5nm. JEOL JSM 6700 F dispose d'une grande chambre avec un étage de travail pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 8 pouces de diamètre. Pour améliorer encore sa flexibilité, il est possible d'ajouter des accessoires optionnels incluant des porte-échantillons pour les étalons, des substrats de plaquettes et une étape motorisée pour un fonctionnement automatisé. Les fonctionnalités avancées du JSM 6700F lui permettent d'être utilisé pour une variété d'applications. Sa haute résolution permet l'imagerie de détails fins sur la surface d'un échantillon. Il peut également être utilisé pour l'analyse de composition avec la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), la spectroscopie Auger et les techniques de piégeage d'électrons. De plus, sa grande chambre et son étage automatisé le rendent apte à l'imagerie 3D et à l'analyse topographique, permettant à l'utilisateur d'analyser et d'imiter des échantillons entiers. En plus de ses excellentes capacités d'imagerie et d'analyse, JSM 6700 F est également équipé d'une variété de fonctions de sécurité pour assurer la protection de l'utilisateur lors de son fonctionnement. Il comprend un système de verrouillage à vide, un interrupteur d'arrêt d'urgence et un système de protection contre la surcharge. JEOL JSM 6700F est un SEM polyvalent et puissant qui offre d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse. Son faisceau d'électrons lumineux, sa grande chambre et sa variété d'accessoires lui permettent d'être utilisé pour un large éventail d'applications. Il dispose également d'une variété de fonctions de sécurité pour la protection et la sécurité de l'utilisateur.
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