Occasion JEOL JSM 6700F #9244394 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute performance dans un large éventail d'applications. Ce SEM est équipé d'un canon à émission de champ avancé, capable de fournir des images de haute qualité avec une résolution aussi fine que 1 nm. Cet instrument est conçu avec un ensemble canon à électrons qui intègre des capacités de focalisation et d'alignement améliorées pour produire les images les plus précises des échantillons. L'instrument est équipé d'un cryo-équipement refroidi à l'azote liquide, qui permet la recherche sur des échantillons biologiques qui doivent être refroidis à basse température. Il est livré avec un interféromètre laser intégré qui peut mesurer la précision du mouvement de l'étage et réduire les erreurs de mesure. L'instrument utilise le système Field Embedded Autotrigger qui capture des images haute résolution. Il dispose d'une unité avancée de préparation des échantillons qui peut à la fois chauffer et refroidir les échantillons, permettant aux chercheurs d'étudier l'effet de la température sur les structures des échantillons. JEOL JSM 6700 F dispose d'un détecteur de haute dynamique, qui produit des images de contraste élevé avec de faibles niveaux de bruit. Pour améliorer encore la résolution des images, les utilisateurs peuvent explorer la possibilité d'utiliser une machine EBCC (Electron-Beam Charge Compensation), un dispositif qui contrôle les électrons dans le faisceau d'électrons pour améliorer le contraste. Le logiciel avancé installé avec l'instrument est capable de navigation avancée, de contrôle de scène et de reconnaissance automatique des fonctionnalités. Le logiciel est également livré avec l'identification et le tri des particules, permettant aux utilisateurs d'étudier les détails minutes à partir des images. Le SEM est livré avec un outil avancé de reconstruction d'ensembles de données 3D, qui permet aux chercheurs de créer des reconstructions 3D à partir d'images 2D à partir du SEM. Cet outil aide à la création d'illustrations 3D des structures d'échantillons. Dans l'ensemble, JSM 6700F est un excellent microscope électronique à balayage pour une variété de besoins de recherche. En combinant des fonctionnalités matérielles et logicielles avancées, l'instrument peut produire des images de haute qualité avec une excellente résolution, permettant aux chercheurs d'étudier des échantillons en détail.