Occasion JEOL JSM 6700F #9248482 à vendre en France

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument avancé d'imagerie et d'analyse pour caractériser des particules allant de 1 µm à 50 µm. Il offre une capacité d'imagerie supérieure avec jusqu'à 5000 grossissements, et dispose d'une chambre physiquement scellée sous vide pour un fonctionnement sûr et reproductible. JEOL JSM 6700 F est un SEM dédié qui fournit une excellente clarté d'échantillon via sa colonne électronique. Le dispositif utilise la technologie optique électronique la plus récente, permettant aux utilisateurs d'observer facilement et rapidement des particules de toutes tailles et formes. Le SEM est conçu pour accueillir un large éventail de tailles d'échantillons, de configurations et de techniques de montage d'échantillons, offrant des capacités d'imagerie optimales dans un large éventail de matériaux et de conditions. JSM 6700F dispose d'un chambel à pression variable intégré associé à une conception unique de détecteur à pression variable de deuxième génération. Cette combinaison de caractéristiques assure la clarté et la conservation de l'image en minimisant les effets de charge. La conception du détecteur à pression variable du SEM permet également de fonctionner à des niveaux de pression très bas, permettant aux utilisateurs de capturer des images détaillées d'un large éventail de matériaux et de microstructures, quelle que soit la taille de l'échantillon. JSM 6700 F utilise une variété de modes et de techniques, allant du simple grossissement intermédiaire fixe à la micrographie haute résolution. Il est équipé d'une gamme de détecteurs et d'outils d'imagerie spécifiques à chaque mode et peut être utilisé dans une grande variété d'environnements d'échantillons, y compris le cadre de laboratoire traditionnel. Le SEM permet également de fonctionner dans une variété de modes d'émission continue et pulsée et permet aux utilisateurs de basculer entre différents paramètres de fonctionnement. Le spectromètre à rayons X dispersif énergétique (EDS) du SEM facilite une analyse élémentaire détaillée et à haute résolution. JEOL JSM 6700F comprend également un certain nombre de fonctions automatisées d'alignement et d'étalonnage qui garantissent des performances cohérentes et fiables. En outre, JEOL JSM 6700 F est équipé d'une gamme de fonctionnalités haut de gamme qui permettent aux utilisateurs de gérer efficacement leurs données et leurs résultats. Le SEM dispose d'un système de gestion des données facile à utiliser et de capacités de rapport intégrées qui permettent aux utilisateurs de communiquer rapidement et facilement leurs résultats. Dans l'ensemble, JSM 6700F est un SEM avancé et riche en fonctionnalités qui offre une imagerie et une analyse sans effort et fiables des particules allant de 1 µm à 50 µm. Les détecteurs intégrés et les outils d'imagerie, combinés aux fonctions d'alignement et d'étalonnage automatisés et aux capacités de gestion des données, fournissent aux utilisateurs une plateforme d'imagerie et d'analyse complète qui garantit des résultats cohérents et précis.