Occasion JEOL JSM 6700F #9294954 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) de JEOL. Il s'agit d'un instrument avancé d'imagerie et d'analyse microscopiques, capable de produire à la fois des images secondaires à haute résolution et des images d'électrons rétrodiffusés (ESB). L'équipement est équipé d'une grande chambre d'échantillon et d'un étage motorisé à quatre axes, permettant un contrôle précis de la navigation de l'échantillon. En outre, le système offre également un grossissement élevé et de faibles performances sous vide. JEOL JSM 6700 F peut être utilisé pour analyser des surfaces et des matériaux à des grossissements allant jusqu'à 250.000x. Le faisceau d'électrons est balayé en hélice, ce qui permet à l'utilisateur de contrôler la taille et la forme de la sonde électronique. En outre, l'unité est également équipée d'une machine optique à champ lumineux et à contraste différentiel (DIC), permettant l'observation de petits détails en trois dimensions. L'outil est également équipé d'une gamme de détecteurs, permettant la capture d'une variété de types d'images différents. Il s'agit d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un détecteur EDS, d'un détecteur SE2, d'un détecteur Auger et d'un détecteur de cathodoluminescence. Grâce à ces détecteurs, les utilisateurs peuvent analyser un large éventail de matériaux et étudier différentes caractéristiques de surface. L'utilisateur peut également ajouter diverses options à l'instrument, y compris un point d'image automatique, une opération à vide élevé, une étape à température contrôlée, un actif d'analyse de jauge de contrainte, et un modèle d'injection de gaz. Ces options permettront à l'utilisateur d'étendre les capacités de JSM 6700F pour diverses applications. Enfin, l'équipement JSM 6700 F est livré avec un logiciel de pointe, permettant le contrôle complet et l'automatisation de l'instrument. Le logiciel fournit également des outils pour l'analyse et l'imagerie de données, y compris des outils pour la production de cartes de sonde électronique. Cela fait du système un choix idéal pour les analyses de surface avancées et l'imagerie.