Occasion JEOL JSM 6700F #9356046 à vendre en France

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ID: 9356046
Style Vintage: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Resolution: 1 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS) With Si-Li detector Window: 10 mm² ULVAC G-100DC Vacuum pump Pressure: 120 ml/min C-6000 Uninterruptible Power Supply (UPS) Power: 6 kVA ADVANTECH TBA1140002 Computer host VIEWSONIC VA916 LCD Monitor, 19" HP / HEWLETT-PACKARD D530CMT Computer host VIEWSONIC VA703 LCD Monitor, 17" Tip broken 2004 vintage.
JEOL JSM 6700Fis un microscope électronique à balayage à haute performance à émission de champ (FESEM). Il est équipé d'un détecteur multi-modes capable d'imagerie en mode électronique secondaire et rétrodiffusé. Cela permet d'utiliser le microscope pour des applications d'imagerie et d'analyse. Le microscope est également équipé d'un système d'ouverture en colonne qui peut être « bouché ». Ceci facilite l'imagerie dépendant de l'angle avec convergence du faisceau variable permettant de résoudre des détails fins dans des échantillons complexes. L'imagerie FESEM principale offre une bonne qualité d'image et de flexibilité. Ceci est réalisé grâce à sa source d'ultra-luminosité et ses paramètres de fonctionnement réglables tels que l'accélération de la tension et du courant du faisceau. Le FESEM dispose également d'un contrôle matériel et logiciel entièrement numérique et peut être utilisé à distance via une interface utilisateur. Le FESEM est également équipé d'un système de balayage automatique. Cela permet de scanner un échantillon dans plusieurs directions avec répétabilité auto-à-position. L'étage dispose également d'un étage rotatif sous vide intégré pour les capacités d'imagerie 3D. JEOL 6700F FESEM est également capable de diverses techniques d'analyse. Il peut être utilisé pour la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS). Ces outils peuvent fournir une analyse élémentaire (à la fois qualitative et quantitative) des composants de l'échantillon. En outre, le FESEM peut être utilisé pour des mesures de spectroscopie de perte d'énergie d'électrons (EELS) qui peuvent être utilisées pour identifier et quantifier différentes liaisons chimiques dans un échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6700F est un outil puissant et polyvalent pour analyser les matériaux dans les applications d'imagerie et d'analyse. Ses hautes performances et sa capacité à effectuer des mesures analytiques sophistiquées en font un instrument précieux pour les chercheurs dans les domaines de la science des matériaux, de la nanotechnologie et de la fabrication de dispositifs semi-conducteurs.
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