Occasion JEOL JSM 6700F #9384886 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) qui combine des performances élevées et une facilité d'utilisation. Ce FESEM très avancé est capable d'imagerie haute résolution et d'une variété de techniques d'analyse pour la caractérisation d'une gamme de matériaux. La conception de JEOL JSM 6700 F met l'accent sur la commodité utilisateur, en utilisant une scène x-y motorisée et l'interface utilisateur écran tactile. Le chargement et le mouvement des échantillons, l'imagerie, les réglages de niveau de détection, et plus sont tous facilement réalisés avec l'interface ergonomique. L'instrument est équipé d'une colonne d'optique électronique haute performance, axée sur l'imagerie haute résolution et le fonctionnement à faible dose. Il supporte également une variété de techniques analytiques, y compris l'analyse EDS et l'analyse WDS, ce qui le rend idéal pour une gamme d'applications. L'optique à balayage haute performance de JSM 6700F est optimisée pour réduire les dommages induits par le faisceau d'électrons, ce qui réduit l'imagerie sous-micron résolution et le fonctionnement à faible dose. La capacité de haute résolution du microscope est encore renforcée par l'installation d'un canon à émission de champ Schottky qui produit des faisceaux d'électrons fortement collimatés à basse tension d'accélération. La combinaison d'une optique électronique optimisée, d'une faible tension d'accélération et d'un canon Schottky se traduit par une résolution d'imagerie supérieure et un fonctionnement à faible dose. En plus de sa résolution impressionnante, le JSM 6700 F dispose également d'une large gamme de capacités analytiques. La spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS) sont supportées par le système de réglage du courant de la sonde et les capacités secondaires d'imagerie électronique. Cela permet l'analyse élémentaire et la microanalyse des échantillons organiques et inorganiques. JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant. Il combine une optique électronique avancée et des caractéristiques uniques telles qu'un canon Schottky pour offrir une résolution exceptionnelle et des capacités analytiques avec une exposition minimale au rayonnement des spécimens. Cette combinaison de fonctionnalités crée un outil idéal pour une multitude de matériaux et de recherches matérielles.