Occasion JEOL JSM 6700F #9402131 à vendre en France
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ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer control
Imaging
Semi in-lens
Resolution: 1280 x 1024 Pixels
EDS with variety of detectors
GUI Interface
Mouse
Operating system: Windows 7
Cold cathode field emission electron gun
Electromagnetic deflection alignment
Conical objective lens
Conical FE Gun
Specimen chamber, 8"
Resolution:
1.0 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification:
LM Mode: 25 - 19,000
SEM Mode: 100 - 650,000
Modes of operation:
Secondary Electron (SE) mode
With lower SE Detector
In-Lens detector with voltage filter
Backscattered Electron (BSE) mode
With retractable solid state
THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system
Power supply:
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Ce SEM particulier est très polyvalent et dispose de capacités d'imagerie avancées, ce qui en fait un excellent choix pour de nombreuses applications d'imagerie avancées. JEOL JSM 6700 F est conçu et construit avec une source d'électrons à émission de champ (FEG), assurant une excellente résolution énergétique et une dérive minimale du faisceau. Ce modèle est équipé d'un détecteur ionique Everard Tilly in-lens et d'un détecteur OMISA Omnispectral, qui offrent une focalisation et une qualité d'image optimales, tout en offrant une large gamme de capacités d'imagerie. Les autres caractéristiques de JSM 6700F comprennent un système de contrôle numérique de balayage, un illuminateur lumineux, un détecteur d'ions avec des capacités de diffraction, et un système de caméra numérique haute résolution. JSM 6700 F est capable de fournir une excellente résolution d'imagerie jusqu'à 1,5 nm ou moins, ce qui le rend idéal pour des applications sophistiquées telles que l'imagerie à petite échelle de la structure cellulaire et la topographie de surface des particules. De plus, son système de contrôle automatisé permet une navigation et une imagerie rapides et précises des échantillons, ce qui augmente l'efficacité et la fiabilité. Ce modèle a également des capacités d'imagerie électronique secondaire et d'émission de champ, permettant aux utilisateurs de saisir les détails topographiques et compositionnels. JEOL JSM 6700F est un SEM robuste, fiable et polyvalent conçu pour répondre aux exigences d'imagerie et d'analyse les plus élevées. C'est un outil idéal pour ceux qui cherchent à effectuer l'imagerie détaillée et l'analyse d'une grande variété d'échantillons, des cellules et des nanoparticules aux matériaux et aux circuits intégrés. Ce modèle dispose d'un appareil photo numérique pour un contrôle d'imagerie amélioré, d'un illuminateur lumineux pour la visualisation d'échantillons et d'un large éventail de capacités d'imagerie et d'analyse, ce qui en fait un choix idéal pour un large éventail d'applications expérimentales.
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