Occasion JEOL JSM 7000F #293622852 à vendre en France

JEOL JSM 7000F
ID: 293622852
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F est un type de microscope électronique à balayage (SEM). C'est un équipement de haute performance qui fournit une résolution et des performances analytiques sans précédent qui permet aux utilisateurs d'observer et d'analyser facilement les structures microscopiques en détail. Le système optique avancé de JEOL JSM 7000 F fournit une imagerie nette et contrastée de détails fins. L'appareil est équipé d'une caméra CCD qui fournit des images haute résolution et une puissante puissance de grossissement optique. JSM 7000F est conçu pour les analyses de type hydrogène et de mode différentiel. Il est capable de détecter des oligo-éléments de manière détaillée. La machine dispose également d'un outil d'imagerie entièrement automatisé, qui permet la capture rapide et précise des données d'image. JSM 7000 F est également capable d'effectuer de multiples analyses spectroscopiques de rayons X dispersifs d'énergie (EDX). La spectroscopie EDX est utilisée pour analyser les compositions élémentaires à l'échelle micronale et d'autres caractéristiques microscopiques. Cela permet d'identifier les éléments présents dans un échantillon, ainsi que leur ampleur et leur intensité relative. Le 700F est également capable de réaliser des études de spectroscopie EDX impliquant l'examen de semi-conducteurs. JEOL JSM 7000F est également conçu pour être utilisé pour des applications de microscopie électronique à balayage à haute résolution (HR-SEM). L'actif est équipé d'une unité de contrôle colonne haute résolution (HRCCU), qui permet un contrôle précis de la résolution du détecteur et de la puissance de grossissement. Cela permet de cartographier avec précision les signaux à l'échelle des microns et de les capturer dans des images à haute résolution. Le JEOL JSM 7000 F comprend également de nombreux composants d'amélioration des performances tels qu'une unité de contrôle automatique de l'inclinaison des étages, qui permet au modèle d'analyser plus avant les échantillons. Le logiciel fournit également un large éventail d'outils de traitement et d'analyse d'images pour aider à l'évaluation des données et améliorer la compréhension des structures étudiées. Dans l'ensemble, JSM 7000F est un puissant microscope électronique à balayage qui peut fournir des images détaillées et des mesures de structures microscopiques. Son système optique avancé, son unité d'imagerie automatisée et divers composants améliorant les performances en font une machine idéale pour la microscopie électronique.
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