Occasion JEOL JSM 7000F #293634856 à vendre en France

JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour observer la surface et la structure de divers matériaux. L'équipement est bien équipé pour répondre aux besoins d'imagerie et d'analyse avancés, tels que l'imagerie de surface 3D, l'imagerie haute résolution, EDS, WDS, l'imagerie en réseau haute résolution, la cartographie par rayons X, et plus encore. La technologie SEM est un outil précieux pour examiner un large éventail de matériaux, de l'organique à l'inorganique, les métaux, les minéraux, les cristaux, et plus encore. Par exemple, JEOL JSM 7000 F est capable de produire des images de résolution supérieure à 3 nm lorsqu'on utilise une source d'électrons à filament de tungstène. Sa vitesse de balayage ultra haute de 10.000 μ m/s permet un balayage rapide des objets, tandis que la chambre à vide haute permet d'examiner de plus grandes surfaces avec plus de détails. D'autres caractéristiques de ce système comprennent un pistolet à émission de champ UPS (FEG) pour permettre l'imagerie à haute résolution de spécimens de taille aussi petite que 2 nm, des performances plus rapides en raison de la pression de fonctionnement plus faible, et le potentiel d'expériences in situ. L'unité comprend une variété d'accessoires d'imagerie, tels que des filtres d'interférence, des risers et des porte-étages, et d'autres composants mécaniques qui peuvent être utilisés pour manipuler des composants au cours d'une expérience. En outre, la spectroscopie dispersive d'énergie avancée (EDS), la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS) et les capacités de cartographie des rayons X permettent aux utilisateurs d'effectuer une analyse plus détaillée de leurs échantillons. En termes d'applications analytiques, JSM 7000F peut être utilisé pour effectuer une cartographie élémentaire sur une variété de matériaux, tels que les métaux, les alliages, les biomatériaux, les semi-conducteurs, et plus encore. Il est capable d'imiter des matériaux aux niveaux atomique et nanométrique, et l'ajout du canon FEG permet l'imagerie d'objets encore plus petits. En outre, la machine est équipée d'une variété de logiciels qui permettent aux utilisateurs de capturer, analyser et manipuler des images de différents types d'échantillons. Dans l'ensemble, JSM 7000 F est un microscope électronique à balayage avancé et fiable qui convient à une gamme d'applications allant de l'imagerie à la cartographie élémentaire. Ses caractéristiques, telles que les capacités ultra haute résolution des utilisateurs et en font un choix idéal pour l'imagerie avancée et les besoins analytiques.