Occasion JEOL JSM 7000F #293649519 à vendre en France

ID: 293649519
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une combinaison inégalée de capacités d'imagerie, de précision et de facilité d'utilisation. JEOL JSM 7000 F utilise une source d'électrons à balayage d'émission de champ avancée pour fournir une qualité d'image exceptionnelle, offrant une résolution et un contraste optimaux, tout en préservant la sécurité des utilisateurs. Ce microscope électronique à balayage est capable de fonctionner dans le vide, le vide et l'environnement, ce qui permet aux chercheurs d'analyser avec précision de petits spécimens de tous les régimes. Le microscope offre plusieurs fonctionnalités utiles pour un fonctionnement rapide et facile. Le système auto-focus assure des images claires et claires, permettant à l'utilisateur de se concentrer rapidement sur l'échantillon en un seul clic. Ce microscope est également équipé d'un système de navigation automatisé, permettant à l'utilisateur d'aligner son échantillon avec précision et précision, ce qui permet d'obtenir des images plus précises et plus détaillées. JSM 7000F offre un large éventail de capacités d'analyse d'images, permettant aux utilisateurs de mesurer les distances, de détecter les composants et de visualiser les relations entre les échantillons et leur environnement. Son détecteur tunnel à faisceau d'électrons permet de capturer avec précision les éléments structurels invisibles, tandis que son affichage optique 3D permet d'analyser la topographie de surface. Son SEM environnemental permet également l'analyse d'échantillons dans des conditions contrôlées, donnant aux chercheurs la capacité d'observer les matières biologiques et autres dans leur état naturel. JSM 7000 F peut être équipé d'une gamme de détecteurs spécialisés, permettant une imagerie précise de n'importe quelle zone ou élément spécifié. Grâce aux capacités avancées de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) et à l'analyse simultanée EDS/SEM, les chercheurs peuvent obtenir une analyse rapide et précise de la composition élémentaire et de la distribution de leur échantillon. Ce microscope électronique à balayage est également équipé d'une conception matérielle avancée qui permet une récupération rapide et précise des images, permettant aux chercheurs de documenter rapidement et facilement leurs résultats et de les partager avec d'autres. JEOL JSM 7000F est un SEM avancé conçu pour répondre aux exigences les plus rigoureuses de la microscopie. Ses capacités d'imagerie avancées, combinées à la facilité d'exploitation et à une large gamme d'applications potentielles en font un choix idéal pour les laboratoires de recherche d'aujourd'hui. Avec son point de prix accessible et sa liste impressionnante de fonctionnalités, JEOL JSM 7000 F est un excellent choix pour tout chercheur cherchant à prendre leurs capacités d'imagerie au niveau supérieur.
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