Occasion JEOL JSM 7000F #293732137 à vendre en France

JEOL JSM 7000F Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'analyse utilisé pour l'imagerie et la caractérisation d'échantillons à très haut grossissement. Il fonctionne en balayant un faisceau focalisé d'électrons sur un échantillon et en générant un signal de son interaction avec l'échantillon, qui est ensuite utilisé pour former une image. JEOL JSM 7000 F est une source d'émetteur de champ SEM, qui fournit une excellente résolution énergétique, une faible densité de courant, et une excellente stabilité du faisceau. Cette stabilité améliore la résolution de l'image et permet à l'utilisateur d'acquérir des images détaillées avec une grande sensibilité. JSM 7000F a trois composants principaux : la colonne optique électronique, le générateur de balayage, et le système de détection. La colonne optique d'électrons contient les composants qui génèrent et focalisent le faisceau d'électrons, y compris la source d'électrons, les lentilles de condenseur, les lentilles intermédiaires et objectives et les fentes d'entrée et de sortie des échantillons. Le générateur de balayage est chargé de contrôler le faisceau dans son motif de mouvement x, y, afin d'acquérir une image numérisée à partir de l'échantillon. Enfin, le système de détection fait appel à des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi qu'à des détecteurs développés pour l'imagerie élémentaire et radiographique. JSM 7000 F dispose d'une large gamme de capacités, y compris à la fois des modes standard tels que l'imagerie à électrons secondaires (SE) et l'imagerie à faible vide SE (LVSEM), ainsi que des modes plus avancés tels que l'imagerie à détecteur rétrodiffusé (ESB), l'imagerie à faible vide ESB, la microscopie électronique analytique (A) et l'imagerie. Il dispose également d'une étape automatisée avec déplacement motorisé dans les directions x, y et z, permettant à l'utilisateur de capturer des images avec une grande précision sans recentrer manuellement. De plus, JEOL JSM 7000F a une haute résolution énergétique allant jusqu'à 0,01 eV, permettant une imagerie profonde et détaillée de l'échantillon. JEOL JSM 7000 F est une excellente option pour l'imagerie et l'analyse d'une grande variété de types de spécimens, ce qui le rend idéal pour les laboratoires de sciences des matériaux, la recherche médicale et la fabrication d'appareils. Sa stabilité supérieure et sa résolution énergétique, ainsi que ses capacités avancées et sa mise en scène automatisée en font un instrument fiable et puissant pour les chercheurs dans n'importe quel domaine.