Occasion JEOL JSM 7000F #293748718 à vendre en France

ID: 293748718
Style Vintage: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Electron gun: Schottky field emission Electromagnetic deflection Conical objective lens Specimen chamber, 8" Working distance: 2 to 40 mm Specimen illumination: 0.1 pA to 10 nA Resolution:1.2 nm at 30kV to 3 nm at 1kV Magnification: LM Mode: 10x to 19,000x SEM Mode: 100x to 500,000x Power supply: 0.5 to 30kV.
JEOL JSM 7000F est un balayage du microscope électronique (SEM) développé par JEOL dans le cadre de leur 7000F la famille de lire des microscopes électroniques rapidement. Il s'agit d'une version actualisée du précédent 6000F, et a été conçu avec des fonctionnalités avancées pour permettre l'imagerie et l'analyse de précision. JEOL JSM 7000 F est un SEM à température contrôlée qui utilise un émetteur de champ froid pour produire un faisceau focalisé d'électrons. Ce faisceau est dirigé vers l'échantillon qui renvoie alors un signal amélioré par rapport aux modèles 6000F. Cela permet au 7000F d'obtenir une résolution plus élevée. De plus, le 7000F est capable de produire une image 3D plus précise et améliorée de l'échantillon en raison de sa profondeur de focalisation améliorée. Son système de mise au point automatique (AFES) aide à obtenir une mise au point optimale pour chaque image prise. JSM 7000F profite également de sa grande distance de travail, jusqu'à 33 mm entre l'échantillon et l'objectif, pour produire une image claire sans que l'échantillon ait besoin d'être en contact direct avec les lentilles. Cette distance de travail plus grande rend le 7000F idéal pour l'imagerie d'échantillons sujets à des dommages, tels que les nanomatériaux. JSM 7000 F dispose également d'un étage automatisé, permettant une stabilité et une fiabilité accrues lors du déplacement de l'échantillon. Associé à sa grande flexibilité, il peut être utilisé pour étudier un large éventail d'échantillons, y compris des matériaux de toutes formes et tailles. Le 7000F est également capable d'étudier des matériaux à haute température, ainsi que des échantillons congelés jusqu'à -100 degrés Celsius. Ceci est obtenu par l'utilisation d'un cryo-étage Gatan Enfinium et d'un accessoire de refroidissement à l'azote liquide, permettant à l'utilisateur de prendre des images de haute qualité d'échantillons qui sont congelés. JEOL JSM 7000F est capable de produire des images détaillées à haute résolution et reste un outil efficace pour l'étude de presque tout type d'échantillon pour l'imagerie et l'analyse. Avec son rapport signal-bruit amélioré, sa conception flexible et son étage automatisé, il demeure un instrument important pour aider les chercheurs à étudier les échantillons avec précision et précision.
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