Occasion JEOL JSM 7000F #293811118 à vendre en France

JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de la composition physique et chimique des échantillons en science des matériaux. Le SEM utilise un faisceau focalisé d'électrons pour scanner un échantillon et génère des images amplifiées et des cartes élémentaires avec une précision et une résolution supérieures jusqu'à l'échelle du nanomètre. Ce modèle particulier de SEM est équipé d'un canon à trois poutres qui offre une gamme d'énergies de faisceau et de densités de courant nécessaires pour une variété d'applications d'imagerie et d'analyse. Il est équipé d'un canon à émission de champ froid (FEG), et la plage de tension de l'anode de la source est 10-30kV pour une résolution maximale de 3nm. Les courants de faisceau supplémentaires disponibles à partir de la FEG permettent d'améliorer considérablement le contraste et la résolution de l'image. Le 7000F dispose d'un étage d'échantillonnage entièrement automatisé, d'une navigation automatisée intégrée, d'un balayage automatisé de l'EDS et de la ligne d'observation, et d'un temps de séjour accéléré qui permet l'imagerie à grande vitesse. Il est également compatible avec un large éventail de types d'échantillons, y compris les couches minces, les nanostructures, les matériaux semi-conducteurs et organiques ainsi que la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. Le 7000F utilise une carte de traitement d'image à haute vitesse dédiée et un système d'objectif à haute ouverture qui permet un suivi et un traitement rapides et précis des images. Cette carte permet également d'intégrer facilement une gamme d'interfaces et d'applications telles que la navigation automatisée, l'imagerie haute résolution, l'imagerie électronique rétrodiffusée, le balayage automatisé des zones d'intérêt et la cartographie élémentaire. Le 7000F a des capacités d'imagerie avancées et est construit avec des matériaux de haute qualité pour maximiser sa durabilité et ses performances. Ses détecteurs intégrés et l'électronique sont bien adaptés aux besoins d'imagerie et d'analyse, tandis que son interface intuitive permet un fonctionnement et un contrôle faciles. Dans l'ensemble, JEOL JSM 7000 F est un SEM très avancé qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées pour une grande variété de matériaux. Ses fonctionnalités avancées, son interface intuitive et ses performances complètes font de ce microscope un choix idéal pour les chercheurs en matériaux et les applications telles que l'analyse des défaillances, le contrôle de la qualité et la caractérisation des nanomatériaux.