Occasion JEOL JSM 7000F #293824803 à vendre en France

ID: 293824803
Style Vintage: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) 2008 vintage.
JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse au niveau du sous-micromètre. Il est équipé de fonctionnalités avancées, y compris l'imagerie haute résolution, les capacités d'analyse, et un canon à émission de champ froid (FEG). JEOL JSM 7000 F utilise une FEG pour sa source d'électrons, qui fournit une luminosité plus élevée et de meilleures performances pour les applications à basse tension comme l'imagerie STEM et le bas kV EDX. JSM 7000F est équipé d'un miroir concave haute résolution et fonctionne à haute tension jusqu'à 30kV. Il est capable de produire une imagerie haute résolution avec une résolution de 1,0 nm à 15kV. En outre, JSM 7000 F peut fonctionner à la fois en mode statique et en mode de balayage dynamique, ce qui offre une polyvalence pour les utilisateurs SEM. JEOL JSM 7000F peut également être équipé d'une gamme complète de détecteurs et de systèmes analytiques tels que EDX, WDX et CL. Comme le canon à électrons fonctionne à une température plus froide, il est capable d'une plus grande stabilité, ce qui conduit à des performances améliorées pour EDX. WDX et CL fournissent également des informations élémentaires et compositionnelles améliorées sur l'échantillon étudié. Pour l'imagerie, JEOL JSM 7000 F utilise une gamme de modes de fonctionnement en fonction de l'application. L'imagerie SEM est réalisée au moyen d'électrons secondaires standard (SEM) et d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour les images de contraste faible et élevé, respectivement. En outre, le microscope peut également représenter en mode de microscopie électronique à transmission à balayage (STEM) qui fournit une imagerie en coupe transversale d'objets de taille micrométrique. En conclusion, JSM 7000F est un microscope électronique à balayage robuste et à haute résolution qui offre une excellente gamme de capacités d'imagerie et d'analyse. Sa source d'électrons FEG avancée offre des performances supérieures tandis que ses modes de balayage statique et dynamique en font un instrument idéal pour de nombreuses applications.
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