Occasion JEOL JSM 7000F #9145727 à vendre en France

JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une excellente imagerie et des capacités d'analyse précises. Il est équipé d'une source d'électrons d'émission de champ et d'un Tribo- gun™ respectueux de l'environnement pour des courants d'électrons incidents plus élevés et un contraste amélioré. Le faisceau a une tension d'accélération maximale de 30kV pour fournir une excellente résolution et une plus grande profondeur de focalisation que les SEM classiques. D'autres caractéristiques incluent les émissions de champ froid, petites tailles de taches d'environ 1-2nm, haute luminosité, et astigmatisme minimal. JEOL JSM 7000 F offre des capacités d'imagerie uniques pour un large éventail de matériaux et d'applications, y compris les semi-conducteurs, les nanomatériaux, les composites, les spécimens médicaux, et plus encore. La source d'électrons fournit une imagerie ultra basse tension exceptionnelle pour l'imagerie de matériaux très conducteurs et/ou magnétiques à des tensions plus faibles que les systèmes SEM typiques. La capacité d'imagerie haute résolution vous permet d'identifier facilement les caractéristiques subtiles et les défauts tandis que la profondeur de champ supérieure permet des mesures quantitatives robustes sur n'importe quelle partie de l'échantillon. Le microscope est également équipé d'une lentille coaxiale et d'une distance de travail de 12 -36mm. Cela permet à l'utilisateur de changer la distance de travail et la résolution facilement et rapidement. JSM 7000F est également livré avec des outils d'imagerie avancés tels que le réglage automatisé du contraste et de la luminosité, l'imagerie simultanée dans plusieurs champs de vision, et le réglage automatique de la focale. À des fins d'analyse, le JSM 7000 F est équipé d'un détecteur EDS entièrement intégré. Cette technologie de spectroscopie dispersive d'énergie est optimisée pour une analyse élémentaire rapide et précise dans un large éventail d'applications. L'étape d'échantillonnage de précision fournit un mouvement lisse et rapide pour la numérisation et la cartographie des rayons X. Dans l'ensemble, JEOL JSM 7000F est un SEM puissant et performant qui peut fournir une excellente imagerie et une analyse précise pour une variété de spécimens. Sa source d'électrons avancée, son étage d'échantillonnage de précision et son détecteur EDS intégré en font une solution idéale pour l'imagerie et l'analyse élémentaire.