Occasion JEOL JSM 7000F #9227135 à vendre en France

JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui fournit aux opérateurs des capacités d'analyse complètes et une résolution d'imagerie supérieure. L'instrument dispose d'un système à ultra-haut vide (UHV), de technologies de contraste avancées et d'une large gamme d'accessoires d'analyse. Par conséquent, JEOL JSM 7000 F est largement utilisé pour diverses applications, telles que la recherche en neurosciences, la science des matériaux, l'analyse des défaillances industrielles et les enquêtes judiciaires. JSM 7000F a une taille d'écart de 20 mm et une large gamme de gammes de courant supportant, permettant aux utilisateurs d'examiner des spécimens en haute résolution et en détail. La source d'émission sur le terrain de l'instrument permet également une imagerie à plus haute résolution avec des tensions de fonctionnement plus faibles, ce qui se traduit par des rapports signal/bruit plus élevés et un contraste amélioré. De plus, le système UHV offre une excellente stabilité de l'échantillon, facilitant le chargement/déchargement rapide et facile de l'échantillon. Les composants analytiques disponibles pour le JSM 7000 F comprennent la diffraction de la rétrodiffusion des électrons (EBSD), la spectroscopie des rayons X dispersive d'énergie (EDS), la cartographie des rayons X et les capacités d'émission des rayons X induites par les électrons (EIKE). Ces composants permettent à l'instrument d'acquérir rapidement des informations détaillées sur la structure, la composition et les propriétés d'un échantillon. JEOL JSM 7000F peut également être intégré avec des sondes SPM et des techniques complémentaires, telles que la spectroscopie Raman, pour améliorer encore ses capacités analytiques. JEOL JSM 7000 F est équipé de nombreux outils de contrôle logiciel qui permettent aux utilisateurs de surveiller, optimiser et maximiser les performances du microscope. Certaines des commandes logicielles fournies comprennent l'empilement d'images, le piquage automatique d'images et l'enregistrement vidéo. Cela permet aux utilisateurs de saisir facilement les données pour une analyse ultérieure. Le microscope dispose également d'une interface utilisateur intuitive, offrant aux opérateurs un accès rapide à toutes les commandes et fonctionnalités. Dans l'ensemble, JSM 7000F est un excellent choix pour ceux qui recherchent un SEM puissant et performant pour la recherche analytique avancée. Avec son système UHV, son large éventail de capacités analytiques et son logiciel intuitif, l'instrument fournit d'excellents résultats pour une variété d'applications.