Occasion JEOL JSM 7000F #9279675 à vendre en France
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ID: 9279675
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer
Detectors:
Secondary Electron Image (SEI)
Backscatter (BEI-TOPO/COMPO)
Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD).
JEOL JSM 7000F est un microscope électronique à balayage à faible tension à émission de champ (SEM). C'est un outil puissant utilisé pour l'imagerie et l'analyse de surfaces à haut grossissement, permettant l'imagerie haute résolution d'une gamme de matériaux, des matériaux biologiques souples aux substances métalliques dures et céramiques. JEOL JSM 7000 F utilise un canon à émission de champ d'électrons Schottky, permettant l'émission d'électrons de haute luminosité avec un bruit de fond faible. Ceci permet une résolution et un contraste supérieurs, avec des images avec une résolution allant jusqu'à 2nm. La haute qualité d'imagerie du SEM est encore renforcée par le système logiciel avancé, qui dispose d'une gamme de fonctions prédéfinies et peut être personnalisé pour différents types d'analyse. JSM 7000F dispose également d'une chambre à pression variable, qui permet de fonctionner à des pressions allant du vide élevé à l'atmosphère. Cela permet l'observation d'échantillons dans leur environnement natif, ainsi que l'observation des effets de haute pression sur les observations et le signal électronique secondaire. D'autres caractéristiques de ce SEM comprennent une grande chambre de spécimen avec étage de spécimen motorisé et un grand champ de vision (jusqu'à 50 mm), permettant l'étude de plus grands échantillons. Le système d'acquisition d'images numériques à haut débit permet de capturer jusqu'à cinq images par seconde avec une large gamme de techniques d'imagerie, telles que les électrons rétrodiffusés (ESB), la carte de composition (EDX) et la phase/cristallographie (EBSD). Le SEM est très convivial, avec un écran tactile et une interface utilisateur intuitive, permettant aux utilisateurs de configurer facilement différents paramètres et mesures. Il est également livré avec une gamme d'accessoires dédiés, tels que des détecteurs, des porte-échantillons, des systèmes de préparation d'échantillons et des systèmes d'imagerie, permettant la personnalisation de JSM 7000 F pour des types d'analyse spécifiques. Dans l'ensemble, JEOL JSM 7000F est un SEM extrêmement polyvalent et puissant, doté de capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution, d'une chambre de pression réglable et d'une interface conviviale. Ces caractéristiques en font un instrument idéal pour un large éventail d'applications d'imagerie et d'analyse, de la science des matériaux aux sciences de la vie.
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