Occasion JEOL JSM 7001F #293606612 à vendre en France

JEOL JSM 7001F est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un système automatisé avancé qui peut fournir des images fiables et reproductibles dans l'environnement et les modes à ultra-haut vide contrôlé. Il dispose d'un canon à électrons à émission de champ, une grande distance de travail de 980mm, un vide de 5x 10-7 Torr, une résolution jusqu'à 4,0nm, et un appareil photo numérique pour limiter la perte d'information. Le canon à électrons à émission de champ est composé d'un filament, d'une grille de focalisation et de pièces polaires, qui permettent une tension d'accélération du faisceau de 0,05 à 30 keV. Ce canon peut augmenter le confinement des électrons, permettant une imagerie haute résolution à des grossissements élevés et des vitesses de travail rapides. La grande distance de travail permet l'utilisation des détecteurs SE et ESB standard, ainsi que des détecteurs EDX plus récents, l'échantillon n'ayant jamais à toucher le stade, ce qui réduit le risque de contamination. Le système de vide se compose d'une pompe rotative et d'une pompe de diffusion, qui se combinent pour obtenir un vide ultra-élevé de 5x 10-7 Torr dans la colonne. La résolution de JEOL JSM-7001F est de 4,0nm à une tension d'accélération de 5-15keV, ce qui la rend capable d'imiter même les plus petites caractéristiques de votre échantillon. JSM 7001F comprend un appareil photo numérique pour s'assurer que les images sont correctement acquises et stockées. Il a également une capacité FIB (Focus Ion Beam), qui permet une analyse transversale précise de l'échantillon. Ce SEM est équipé de fonctionnalités telles que la navigation automatisée, qui aide à localiser rapidement les caractéristiques d'intérêt dans l'échantillon ou à mesurer entre deux points. Cette capacité permet une analyse plus rapide des échantillons, surtout lorsque plusieurs images doivent être acquises ou comparées. En conclusion, JSM-7001F est un microscope électronique à balayage avancé avec un canon à électrons à émission de champ, une grande distance de travail de 980mm, un vide ultra haut de 5x 10-7 Torr, une résolution de 4,0nm à une tension d'accélération de 5-15keV, et une caméra numérique. Ce SEM est capable d'analyse FIB précise, de navigation automatisée, et est conçu pour l'analyse rapide de plusieurs images.