Occasion JEOL JSM 7001F #9260022 à vendre en France

JEOL JSM 7001F
ID: 9260022
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7001F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise l'imagerie par faisceau d'électrons pour obtenir des images à haute résolution de spécimens. Il dispose d'un filament de tungstène à côté de la chambre d'échantillonnage, permettant un électrons de haute énergie, qui circulent à travers le filament permettant de plus grands agrandissements. JEOL JSM-7001F peut agrandir des échantillons jusqu'à 200.000x et son faisceau d'électrons a une taille de tache de 4nm. Ses systèmes de vide permettent un fonctionnement très stable et une excellente qualité d'image. Le microscope est livré avec les systèmes standard à faible vide, ultra-basse et à pression variable. Ses systèmes à vide faible et ultra bas réduisent l'ouverture du condenseur de correction Cs pour permettre la qualité de l'imagerie au niveau atomique. L'équipement à pression variable permet de maintenir des conditions optimales pour l'observation des échantillons sensibles à l'air et à l'eau, tout en permettant à l'utilisateur d'ajuster la pression au besoin. JSM 7001F dispose d'un système de contrôle numérique et d'une unité d'imagerie numérique avec une machine d'affichage à deux canaux. La précision de positionnement des mouvements d'étage est de 0,1 µm et la chambre d'échantillonnage peut être remplie de divers gaz tels que l'azote ou l'argon. De plus, une capacité d'ultra-haute dépression automatisée est disponible avec JSM-7001F. La capacité spéciale automatisée à ultra-haut vide permet aux spécimens d'être complètement immobile, facilitant l'imagerie de précision et la manipulation du faisceau d'électrons pour examiner les caractéristiques des spécimens extrêmement petits. JEOL JSM 7001F comprend également une large gamme d'options, d'accessoires et de détecteurs permettant une flexibilité ultime. JEOL JSM-7001F est capable de détecter de multiples signaux, y compris des électrons secondaires et rétrodiffusés, qui donnent un excellent contraste topographique. Il comprend également un détecteur fluorescent en chambre, permettant de déterminer la composition des éléments. L'outil d'imagerie comprend des options qui comprennent une gamme complète d'options numériques. Dans l'ensemble, JSM 7001F est un microscope électronique à balayage haute performance qui utilise l'imagerie par faisceau d'électrons pour donner une excellente résolution et le contraste pour observer une large gamme d'échantillons. Le contrôle numérique du microscope, son haut niveau de précision et les accessoires qui l'accompagnent en font un outil précieux pour le domaine de la microscopie.
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