Occasion JEOL JSM 7001F #9267101 à vendre en France

JEOL JSM 7001F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour diverses applications de microscopie dans les domaines de la science des matériaux, de la biologie et de l'analyse industrielle. Avec son équipement d'imagerie EverVon, un détecteur d'ESB haute résolution, un système intégré de spectroscopie dispersive d'énergie aux rayons X (EDS) et une unité EDS haute résolution en option, c'est un appareil puissant pour explorer les microstructures. Les capacités d'imagerie haute résolution de JEOL JSM-7001F proviennent de son optique électronique en colonne, qui dispose d'un détecteur d'électrons secondaire EverVon. Ce détecteur génère des images très haute résolution de surfaces et d'interfaces, fournissant des aperçus détaillés sur les composants de l'échantillon. La machine EDS à rayons X intégrée est capable de détecter jusqu'à 10 éléments avec une résolution spatiale allant jusqu'à 0,3 μ m. Cela permet à l'utilisateur de cartographier rapidement et facilement les éléments d'un échantillon et d'obtenir plus d'informations sur sa composition chimique. En outre, l'outil EDS haute résolution en option peut détecter jusqu'à 63 éléments avec des résolutions de 0,2 μ m ou mieux. JSM 7001F a une conception de colonne flexible qui permet une large gamme de porte-échantillons, y compris ceux pour la section transversale, la microscopie électronique à transmission et la microanalyse aux rayons X. Les étages de balayage sont motorisés et équipés d'un basculement à axe B pour le positionnement de l'échantillon. L'inclinaison de l'axe B élimine la nécessité d'un goniomètre séparé. Les étages de balayage motorisés permettent également à l'utilisateur de contrôler avec précision le positionnement et le mouvement des échantillons. En termes d'environnement de fonctionnement, JSM-7001F est totalement fermé et dispose d'une pompe à vide « intelligente », qui peut ajuster automatiquement la pression de fonctionnement en fonction des besoins de l'échantillon. En outre, l'actif d'imagerie EverVon dispose de fonctions d'imagerie numérique et d'amélioration de l'image. Enfin, JEOL JSM 7001F est équipé d'une gamme de modes automatisés de commutation, de numérisation et d'acquisition de données. En conclusion, JEOL JSM-7001F est un choix idéal pour une variété d'applications de microscopie. Ses capacités d'imagerie haute résolution, ses systèmes EDS secondaires et X intégrés et ses modes automatisés permettent une exploration efficace et complète de la structure et de la composition chimique d'un échantillon.