Occasion JEOL JSM 7200F #9376080 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 7200F (SEM) est un instrument polyvalent pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution et à haut débit. Il est adapté à un large éventail d'applications, de la science des matériaux à la recherche biologique et à l'inspection industrielle. À l'aide d'une combinaison d'optiques électroniques et d'un réseau de détecteurs électroniques, JSM 7200F produit des images détaillées d'échantillons à l'échelle du nanomètre. Sa source d'électrons de canon à émission de champ fournit des courants de faisceau élevés, même à des grossissements extrêmement faibles, permettant l'imagerie détaillée de matériaux durs et souples. JEOL JSM 7200F intègre également une gamme de fonctions analytiques automatisées. La spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS) fournissent des informations chimiques sur l'échantillon, tandis que les routines automatisées de traitement d'image (MAPS) donnent des mesures tridimensionnelles précises de la topographie de l'échantillon. JSM 7200F a plusieurs modes d'imagerie haute résolution, y compris SEI et ESB, qui sont optimisés pour l'imagerie de surface et les éléments faiblement absorbés, respectivement. Le mode détecteur de rétrodiffusion (BAD) produit des images très sensibles de sections biologiques épaisses, tandis qu'un mode Tomography Scanning ADC (TSADC) permet à l'utilisateur de capturer tous les détails d'un échantillon 3D dans une seule image. JEOL JSM 7200F dispose d'une scène généreuse de 200 mm, avec une large gamme de commande de mouvement. Son système d'inclinaison du plan de plancher complet et son système de commande de mouvement à 6 axes permettent une imagerie optimisée à n'importe quel angle d'inclinaison. Avec son foyer motorisé, JSM 7200F peut garder la trace de toute la surface de l'échantillon pour l'imagerie améliorée. Les fonctionnalités avancées de JEOL JSM 7200F comprennent un blanchisseur de faisceau pour supprimer les rayonnements parasites, un collecteur automatisé de débris pour garder la chambre propre, et un système de refroidissement intégré pour maintenir la température de l'échantillon stable. La combinaison de design rigoureux et de technologies de pointe du JSM 7200F en fait un excellent choix pour un large éventail d'applications industrielles et de recherche. Ses superbes capacités d'imagerie, sa gamme d'outils analytiques et son interface utilisateur intuitive en font un outil idéal pour étudier les nanosciences et d'autres matériaux, aussi bien durs que souples.