Occasion JEOL JSM 7400F #188813 à vendre en France

JEOL JSM 7400F est un microscope électronique à balayage à émission de champ conçu pour l'imagerie ultra haute résolution et les applications avancées d'analyse nanométrique. JSM 7400F permet l'imagerie et l'analyse d'échantillons avec des résolutions jusqu'à 1nm à la surface de structures complexes. La source d'émission de champ sur ce microscope permet une excellente qualité d'image et augmente la densité de courant atteignable. Son système amélioré d'alimentation en courant cathodique permet le fonctionnement simultané de plusieurs sources d'émission, contribuant à une performance globale accrue. Le microscope offre également un grand ensemble de pistolets et de détecteurs secondaires permettant des approches très sélectives pour l'imagerie et l'analyse. Il s'agit notamment d'un filtre d'énergie à double axe dans la colonne et d'un filtre d'énergie à faible vide (LVEF) mono-axe dans la lentille. JEOL JSM 7400F offre également un grand nombre de fonctionnalités supplémentaires pour l'analyse avancée. Ses spectromètres haute performance EDX (Energy-Dispersive X-ray) et WDX (Wavelength-Dispersive X-ray) permettent d'acquérir une analyse élémentaire qualitative et quantitative. Au-delà de cela, JSM 7400F est équipé d'un spectromètre de masse ionique secondaire temps de vol (ToF-SIMS), qui est utilisé pour analyser les caractéristiques de l'additionneur et de la structure de surface, ainsi que pour effectuer le profilage de profondeur de l'échantillon. JEOL JSM 7400F offre un ensemble polyvalent de fonctionnalités logicielles. Shimadzu EPMA Viewer logiciel peut être utilisé pour mesurer des images de rayons X, et FST Mapping pour se concentrer sur des gammes spécifiques d'énergie. En outre, un logiciel de numérisation automatique capable d'EPMA peut être utilisé en option pour automatiser le processus d'imagerie et d'analyse avec des simulations supplémentaires. Dans l'ensemble, JSM 7400F est un microscope électronique à balayage avancé offrant une imagerie haute résolution, des capacités d'analyse nanométrique avancées, et une large gamme de fonctionnalités supplémentaires, ce qui en fait un excellent choix pour les utilisateurs à la recherche d'un SEM polyvalent et puissant.