Occasion JEOL JSM 7400F #9244470 à vendre en France

JEOL JSM 7400F est un microscope électronique à balayage haute performance de nouvelle génération (SEM) pour l'imagerie et l'analyse dans un large éventail de sciences des matériaux. Il a un design très fiable et polyvalent, avec un certain nombre de fonctionnalités avancées. Au cœur de JSM 7400F se trouve la colonne de faisceau d'électrons, qui utilise un canon d'émission de champ Schottky (FEG) pour créer un faisceau d'électrons très stable. La colonne est entraínée par deux bobines de balayage indépendantes, permettant un contrôle fin de la position et de la convergence du faisceau d'électrons. La colonne dispose également d'une source de haute tension intégrée qui peut être utilisée pour générer divers modes d'imagerie, y compris les électrons secondaires (SE) et les électrons rétrodiffusés (ESB), qui peuvent être utilisés pour générer du contraste sur l'écran. Ceci est encore amélioré par la résolution de niveau micron disponible sur les échantillons. Le module de contrôle de JEOL JSM 7400F dispose d'un logiciel puissant pour contrôler et automatiser facilement le positionnement des échantillons et le paramétrage. Son interface utilisateur graphique interactive permet de configurer facilement des tâches d'imagerie spécialisées, avec un tactile pratique utilisé pour contrôler l'utilisation de plusieurs paquets d'imagerie et d'analyse disponibles sur l'instrument. Certains de ces ensembles comprennent la spectroscopie des rayons X dispersifs d'énergie (EDX), la cartographie des rayons X et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Le 7400F est également livré avec des fonctions de calibrage automatisé, conçu pour assurer le centrage précis des spécimens et la précision du balayage. Une des principales caractéristiques de JSM 7400F est son efficacité, en raison des fonctions de filtrage et de refroidissement très efficaces qui réduisent l'utilisation de l'énergie. En outre, il est équipé de LED ventilées par air et d'un système de mise à la terre électrique en boucle fermée qui assure un niveau de bruit très faible. Les dispositifs de sécurité de l'instrument comprennent un bouton d'arrêt d'urgence et des dispositifs de sécurité laser, qui assurent l'arrêt instantané de la sécurité en cas d'interruption du fonctionnement. JEOL JSM 7400F est un instrument idéal pour un large éventail d'applications, de la recherche en sciences des matériaux à l'analyse des défaillances industrielles. Sa combinaison de fonctionnalités avancées, de conception ergonomique et de hautes performances fournit aux chercheurs et aux techniciens un outil d'imagerie et d'analyse fiable et puissant.