Occasion JEOL JSM 7400F #9248819 à vendre en France
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ID: 9248819
Style Vintage: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Orion image system
SEIKO Turbo pump
Manual
2004 vintage.
JEOL JSM 7400F est un microscope électronique à balayage qui offre une qualité d'image supérieure, des performances supérieures et une gamme de fonctionnalités conviviales. Cet équipement est idéal pour les laboratoires de recherche qui cherchent à faire des observations détaillées d'échantillons à l'échelle du nanomètre. Les composants de base du JSM 7400F sont un système de lentilles à condenseur variable à haute résolution et à faible bruit, qui permet aux utilisateurs de zoomer sur des échantillons cibles à des grossissements allant jusqu'à 50,000X, et un détecteur d'électrons secondaires à haute sensibilité qui peut détecter les signaux produits par les électrons accélérés à travers le matériau de l'échantillon. Cette unité est également équipée d'une variété de fonctionnalités avancées, telles qu'un générateur de faisceau d'électrons en couleur qui peut générer jusqu'à trois faisceaux à la fois, et une fonction de commande de focalisation dynamique qui ajuste constamment le foyer tout au long d'un examen d'échantillon afin d'améliorer la résolution. En ce qui concerne la préparation des échantillons, JEOL JSM 7400F dispose d'une machine d'échange automatique d'échantillons qui permet le chargement et le déchargement rapides et précis des échantillons. Le porte-spécimen de cet outil est également compatible avec les stubs SEM et FIB, qui peuvent positionner et incliner précisément l'échantillon pour une imagerie optimale. JSM 7400F est également équipé de fonctions d'imagerie avancées, y compris un canon à émission de champ COLD et un étage rotatif interne. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'acquérir une variété d'images à partir d'un même échantillon, y compris des images en direct, des images formées avec de la lumière polarisée et des images de petits objets embarqués. L'actif prend également en charge le piquage automatisé des images pour obtenir des images panoramiques à haute résolution. En outre, JEOL JSM 7400F est conçu pour faciliter le partage d'images entre utilisateurs multiples. Le modèle effectue un traitement d'image dans un PC compatible et peut transmettre instantanément des images sélectionnées sur un réseau. Cela rend possible la collaboration entre chercheurs en temps réel. JSM 7400F est un équipement efficace et très avancé de microscopie électronique à balayage parfait pour les laboratoires de recherche qui ont besoin d'imagerie de précision à l'échelle des nanomètres. Ses performances exceptionnelles, ses fonctionnalités faciles à utiliser et sa technologie d'imagerie de pointe en font un atout précieux pour tout laboratoire.
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