Occasion JEOL JSM 7400F #9272205 à vendre en France

JEOL JSM 7400F est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe souvent utilisé dans diverses applications, y compris la science des matériaux et de la surface. Il offre une fonctionnalité et une convivialité supérieures avec une large gamme de fonctionnalités, y compris l'imagerie haute résolution, la microanalyse élémentaire et les reconstructions topographiques 3D. Au cœur de JSM 7400F se trouve un équipement de lentille de champ électromagnétiquement perpendiculaire offrant à la fois une imagerie haute résolution jusqu'à 0,5 nm de résolution latérale et une meilleure capacité de profondeur de champ. Ce système fonctionne en tandem avec un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution pour l'imagerie optimale des échantillons. Couplé à l'objectif est une machine polyvalente de microanalyse aux rayons X. Cet outil permet aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire non destructive des échantillons sur un large éventail d'énergies allant du béryllium à l'uranium (B-U). JEOL JSM 7400F utilise en outre un canon d'émission de champ environnemental avec une densité de courant élevée et une stabilité supérieure, fournissant des électrons vierges formant des images. Ce fusil est excellent pour l'imagerie de contraste élevé, ce qui le rend idéal pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons tels que les matériaux isolants. En outre, l'unité dispose d'une gamme d'accessoires tels qu'une large gamme d'options de pression de vide, plusieurs objectifs, ainsi qu'une gamme de détecteurs supplémentaires pour EDX, WDX, BSD, et d'autres analyses. Enfin, JSM 7400F utilise la technologie d'imagerie 3D pour l'imagerie topographique des échantillons. Cette technologie permet aux utilisateurs de créer des reconstructions 3D à partir d'images 2D, permettant une compréhension précise de la géométrie de surface et des morphologies. L'actif d'imagerie 3D peut être combiné avec un électropolissage à haute résolution pour la préparation de spécimens afin d'obtenir des images à haute résolution avec des détails de surface supérieurs. En conclusion, JEOL JSM 7400F est un puissant microscope électronique à balayage pour l'analyse d'échantillons et l'imagerie. Il dispose d'une gamme de caractéristiques, dont l'imagerie haute résolution, la microanalyse élémentaire et les reconstructions topographiques 3D pour l'analyse détaillée des matériaux et des surfaces. Grâce à ses fonctionnalités avancées et à son design polyvalent, JSM 7400F est un excellent outil de recherche dans divers domaines.