Occasion JEOL JSM 7400F #9384379 à vendre en France

JEOL JSM 7400F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) conçu pour une gamme d'applications dans la science des matériaux et la recherche biologique. JSM 7400F est un FESEM avancé doté d'un équipement intégré Ultra High Vacuum (UHV) et d'un détecteur de rayons X à haute résolution et dispersif en énergie pour une analyse élémentaire précise. La source d'électrons du microscope est un canon à émission de champ de lanthane hexaboride (FEG), qui fournit une imagerie haute résolution et réduit les coûts d'exploitation. La FEG est alimentée par un système de contrôle actif à électrons variables (VEGC), qui contrôle précisément la tension, le courant et l'angularité du canon pour une performance optimale. Les puissantes lentilles électrostatiques à haute résolution sont équipées d'ouvertures à condenseur variable et de diaphragmes de champ pour un contrôle précis de l'image. JEOL JSM 7400F est conçu pour un rapport signal/bruit extrêmement élevé, offrant une vitesse d'imagerie et une sensibilité sans précédent. Il offre également un mode de fonctionnement intégré à basse dépression, permettant l'intégration avec des échantillons sensibles électriquement et mécaniquement. Un filtre à énergie fournit une résolution à 0,9 eV, tandis que la chambre d'échantillonnage dans la colonne accueille un large éventail d'échantillons, des matériaux les plus petits aux plus lourds, y compris des échantillons biologiques. Le microscope est un instrument d'analyse précis, fournissant des mesures précises et fiables avec les détecteurs de rayons X avancés. L'unité de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) permet d'identifier la composition chimique des échantillons. La machine intégrée de spectroscopie dispersive en longueur d'onde (WDS) améliore encore les capacités de cartographie élémentaire avec une grande sensibilité et une excellente précision. JSM 7400F est capable de fonctionner dans une gamme de températures allant de la température ambiante (20 ° C) jusqu'à 300 ° C Il dispose de détecteurs classiques et dans les lentilles, et la grande chambre d'échantillon permet l'imagerie simultanée avec plusieurs détecteurs. La conception conviviale de JEOL JSM 7400F comprend également une interface utilisateur bien organisée et une console de navigation, permettant une facilité d'utilisation et un contrôle précis. JSM 7400F est un microscope électronique à balayage à haute performance conçu pour l'analyse polyvalente et l'imagerie d'une gamme de matériaux et de spécimens biologiques. Il fournit une excellente résolution d'imagerie, une large chambre d'échantillonnage, et des tests fiables et précis avec ses détecteurs FEG et X avancés. L'interface utilisateur pratique et les capacités d'analyse de précision de JEOL JSM 7400F en font un choix fiable et de pointe pour la recherche scientifique d'aujourd'hui.