Occasion JEOL JSM 7401F #293750575 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM) bien équipé pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons à haute résolution. Doté d'un grossissement maximal de 400,000X, cet instrument est un outil puissant pour résoudre les structures microscopiques de différents types de matériaux. JEOL JSM-7401F offre une imagerie de haute qualité avec des modes d'ultra-vide et de basse dépression, lui permettant de produire des images très détaillées et des données spectroscopiques d'échantillons organiques et inorganiques. Le SEM dispose d'une source d'électrons de canon à émission de champ, qui couplée à son objectif FEG améliore la qualité des images et réduit le coût par balayage. Avec un grand étage cet instrument est idéal pour l'imagerie de grandes zones d'échantillons et pour le balayage rapide d'échantillons. Il a plusieurs modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée, et même l'imagerie cathodoluminescence. Le SEM est également capable d'effectuer la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS) et la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) en fonction des besoins de l'utilisateur. En plus de ses capacités d'imagerie, le SEM dispose également d'un système de navigation qui permet à l'utilisateur de naviguer rapidement dans une grande zone d'échantillonnage. Ce système de navigation peut aider à trouver divers domaines d'intérêt tels que les défauts, les défauts, ou même la présence d'éléments particuliers dans l'échantillon. L'instrument permet également aux utilisateurs de stocker et d'évaluer facilement leurs résultats d'imagerie dans une variété de formats, permettant une comparaison plus facile des données sur plusieurs scans des mêmes échantillons. Le sem dispose d'un PC embarqué avec une grande capacité de mémoire qui permet une gestion et un tri faciles des données. En outre, l'instrument est également compatible avec Windows OS pour des capacités de manipulation de données plus avancées. En résumé, JSM 7401 F est un microscope électronique à balayage très avancé et puissant adapté à l'imagerie de nombreux types d'échantillons. Doté de capacités d'imagerie avancées, d'un grand étage, d'une résolution d'image de haute qualité et d'excellentes options de gestion de données, cet instrument est idéal pour résoudre les caractéristiques microscopiques aux plus hauts grossissements disponibles.