Occasion JEOL JSM 7401F #293751819 à vendre en France

ID: 293751819
Style Vintage: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) SM 34080 Lower detector device SM 36120 In-column faraday cup SM 34100 Integrated beam current measurements DE-IR Infrared video camera for sample chamber SM 74071 High-resolution backscatter detector SM 74130 STEM Detector for bright and dark field measurements Operating system: XP SP2 2007 vintage.
JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'examen d'une gamme de matériaux et d'échantillons. Cet instrument utilise un canon à électrons en tungstène (W) pour générer un faisceau fin d'électrons, qui est ensuite focalisé et balayé à travers l'échantillon. Après balayage de l'instrument recueille et amplifie le signal rétrodiffusé de l'échantillon, produisant une image. JEOL JSM-7401F possède plusieurs composants avancés de colonne électronique, dont un correcteur d'aberration sphérique (Cs) et des stigmates réglables. Le correcteur Cs contrôle le niveau d'énergie électronique, tandis que les stigmates réglables permettent de régler l'astigmatisme, permettant un niveau amélioré de clarté, de contraste et de résolution de l'image. Par ailleurs, la colonne de JSM 7401 F est reliée à un boítier de commande côté colonne qui comporte un analyseur de spectre. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster la vitesse de balayage et la qualité de l'image, tout en fournissant une rétroaction sur les niveaux de luminosité du faisceau. La chambre en aluminium recouverte de poudre de JEOL JSM-7401 F est conçue pour assurer la sécurité opérationnelle ainsi que la stabilité pendant le fonctionnement. Une combinaison de connexions électriques, de systèmes de pompage et d'une barre de titane montée sur le côté de la chambre permet un positionnement optimal des échantillons. De plus, le niveau de vide peut être régulé pour contrôler l'épaisseur des échantillons. L'instrument est également équipé de plusieurs fonctions automatisées ; comme la stabilisation du foyer et la danse du faisceau. Ces fonctionnalités aident à réduire l'erreur de l'utilisateur pendant la capture d'image, tout en fournissant une qualité d'image cohérente. En outre, le processeur vidéo de la machine peut également enregistrer des images à 9 images par seconde, ce qui en fait un SEM approprié pour des acquisitions rapides. En conclusion, JEOL JSM 7401 F est un microscope électronique à balayage haute performance, capable de produire des images à haute résolution. Ses caractéristiques le rendent adapté à une grande variété d'applications, de la recherche à l'industrie.
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