Occasion JEOL JSM 7401F #293768228 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) avec une polyvalence inégalée en imagerie. Cet équipement de pointe combine des capacités SEM à air et à vide dans une plate-forme de pointe. Un ensemble de caractéristiques d'imagerie avancées, telles que le contraste électronique rétrodiffusé (ESB), l'imagerie électronique secondaire (SEI) et la spectroscopie dispersive à énergie X résolue en angle (XEDS) permet une analyse matérielle inégalée. JEOL JSM-7401F dispose d'un filament de tungstène haute résolution, offrant une résolution maximale de 0,7nm et une plage de grossissement de 20x à 300,000x. Le système a une gamme toujours croissante d'options et d'accessoires pour une grande variété d'applications. Un étage d'échantillonnage motorisé à 5 axes est disponible pour la manipulation et l'imagerie automatisée des échantillons. Le SEM comporte également une étape de SEM environnementale pour permettre l'observation in situ des échantillons dans des conditions de gaz/refroidissement. Le microscope électronique à balayage a une conception unique à trois chambres qui permet de commuter entre les conditions de fonctionnement de l'air, du vide faible et du vide élevé. Cette conception permet l'imagerie SEM d'une grande variété de matériaux dans plusieurs environnements. La polyvalence du fonctionnement des échantillons et de l'imagerie rend cette unité idéale pour les utilisateurs qui ont besoin de capturer une gamme de caractéristiques microstructurales. Le JSM 7401 F intègre également un refroidisseur intégré pour le refroidissement rapide par étapes. Avec une plage de température de -30C à + 60C, l'utilisateur peut rapidement obtenir des conditions d'imagerie optimales dans les plus brefs délais. En plus des impressionnantes capacités d'imagerie, JEOL JSM-7401 F offre des outils d'analyse avancés, tels que l'analyse automatique de la taille des particules, l'analyse élémentaire des particules et la cartographie de la topographie de surface. Le logiciel inclus peut produire des images 3D avec placement automatique de l'étiquette, permettant de quantifier les différentes caractéristiques observées dans l'image. Les utilisateurs peuvent également stocker, comparer et analyser des images acquises pour référence future. Ce SEM puissant offre également un moteur de rapport et d'analyse pour fournir des résultats précis et objectifs. JSM-7401F constitue une norme de pointe en imagerie et analyse en microscopie électronique. Son large éventail de fonctionnalités et de fonctions, ainsi que ses performances de classe mondiale, en font le choix idéal pour de nombreuses applications.