Occasion JEOL JSM 7401F #293770674 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM) produit par JEOL. JEOL JSM-7401F est un pistolet à émission de champ SEM qui est capable de capturer des images détaillées de matériaux à haute résolution. Ce SEM de pointe utilise une technologie d'émission de champ haute performance, combinant une alimentation de haute tension (GHT) de canon, un sélecteur d'énergie électronique, et une chambre étanche Debri pour l'imagerie supérieure. JSM 7401 F fournit l'imagerie à haute résolution des électrons secondaires (SE) et l'imagerie cathodoluminescence (CL) avec l'imagerie haute résolution, basse tension des échantillons aussi minces que 50 nm. Il fournit également un affichage haute résolution de 0,6 nm à 15 kV avec un excellent contraste et résolution. Pour l'imagerie supérieure, JSM-7401F utilise une taille de tache standard de 5 microns avec un équipement de correction d'aberration chromatique (CAC) de 5 microns. De plus, le SEM avancé permet une plus grande dynamique pour l'imagerie de champs appliqués avec des électrons secondaires de faible énergie. JSM-7401 F dispose également d'un puissant système Multi Beam Interface (CMBI) et d'un télescope de commande multi-axes. Cela permet à l'utilisateur d'optimiser les conditions d'imagerie qui conviennent à tout matériel et à toute application. En outre, l'unité Multi Beam Interface fournit un balayage vidéo en direct, permettant un balayage rapide sans brouillage d'image. JEOL JSM 7401 F est conçu pour être convivial et dispose d'une interface graphique intuitive entièrement configurable. Cette interface rend l'utilisation du SEM plus simple et plus facile à apprendre. En outre, le SEM prend en charge une gamme de protocoles de contrôle, y compris Ethernet, VME et CAN. Afin d'assurer une excellente imagerie et performance, JEOL JSM-7401 F est équipé de fonctions avancées telles qu'un mécanisme d'auto-focalisation, une machine de contrôle de profil de faisceau et un module d'éclairage latéral. Ces fonctionnalités aident les utilisateurs à focaliser avec précision le faisceau et à obtenir des images d'échantillons avec un contraste et une résolution améliorés. Dans l'ensemble, JSM 7401F est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant qui convient à un large éventail de matériaux et d'applications. Il est capable de fournir des images haute résolution à basse tension, une imagerie haute performance d'échantillons aussi minces que 50 nm, et des fonctionnalités avancées qui aident à assurer la meilleure imagerie possible.