Occasion JEOL JSM 7401F #9147359 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM) couramment utilisé en recherche appliquée. Il est réputé pour son imagerie de haute qualité, son analyse précise des échantillons et ses mesures précises. Ce microscope électronique à balayage se distingue par sa haute résolution et permet des grossissements jusqu'à 200,000x. JEOL JSM-7401F intègre des caractéristiques telles qu'un canon à émission de champ (FEG) pour haute tension d'accélération qui produit un faisceau stable, permettant une imagerie et une analyse précises. Il contient également deux détecteurs - le détecteur d'électrons secondaire et le détecteur d'électrons rétrodiffusés - qui mesurent l'interaction entre le faisceau d'électrons et l'échantillon. C'est connu sous le nom d'imagerie analytique et est un outil puissant pour la recherche approfondie. JSM 7401 F utilise un détecteur de rayons X pour la spectrométrie, une technique utilisée pour l'analyse élémentaire. Cela aide à identifier les éléments de l'échantillon et à déterminer la composition atomique. Le détecteur de rayons X permet également le balayage de lignes de rayons X, l'analyse de points et la cartographie EDX - tous utilisés pour visualiser les distributions chimiques. Pour la capture d'image à grande vitesse, JEOL JSM-7401 F contient plusieurs composants de capture d'image. Il est équipé d'une caméra CCD haute résolution qui produit des images numériques avec un minimum de bruit. La fonction « High Defocus » améliore la qualité d'image à des grossissements plus élevés et des techniques de balayage rapide peuvent être utilisées pour générer des images tridimensionnelles. En plus des capacités d'imagerie et d'analyse, JSM-7401 F est également réputé pour son contrôle d'étage de haute précision. Il a trois degrés de liberté motorisés et peut gérer une gamme de tailles d'échantillons avec sa grande gamme de déplacements. Les échantillons peuvent également être tournés et focalisés à l'aide des contrôles haute résolution. JSM 7401F est un microscope électronique à balayage polyvalent et peut être utilisé pour un large éventail d'applications. Il peut être utilisé pour inspecter la surface d'un échantillon pour déceler des défauts ou pour analyser la composition et la structure d'un matériau. En combinant une gamme de techniques analytiques avec son imagerie de haute qualité, JSM-7401F produit des résultats précis avec un minimum d'effort.