Occasion JEOL JSM 7401F #9206955 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet l'imagerie à haute résolution et la caractérisation de matériaux spécimens. Pour ce faire, on utilise un faisceau d'électrons focalisés qui est balayé sur l'échantillon. Les électrons balayés interagissent avec le matériau pour produire un signal qui peut être utilisé pour construire une image. Le SEM fonctionne soit sous vide, soit sous haute pression, selon le type d'échantillon analysé. Le mode à vide élevé crée un environnement à faible bruit pour améliorer la résolution de l'imagerie et la caractérisation. En mode haute pression, un environnement d'échantillon avec une pression allant jusqu'à 7 MPa est prévu pour induire divers phénomènes tels que la déformation et la décomposition des matériaux. JEOL JSM-7401F est également livré avec une colonne électronique-optique, fournissant un faisceau d'électrons à balayage avec une taille minimale de 0,5nm pour maximiser la résolution d'imagerie. En outre, il comprend un changeur de canon à colonne qui permet l'échange de différents types de canons à électrons, comme un canon à émission de champ (FEG), pour un large éventail d'applications. Le SEM est construit avec un système de plaques haute vitesse qui dispose d'un étage XY de haute précision avec une surface de balayage maximale de 100x100mm, ce qui le rend idéal pour l'imagerie rapide de grandes surfaces. La tension d'accélération du faisceau du système peut aller de 0,5 à 30 kV et son courant de faisceau va de 0,2 à 50 nA. Le système est également équipé d'un processeur de signal dédié qui peut acquérir des données de signal jusqu'à 10 giga pixels par seconde. Le JSM 7401 F est piloté par ordinateur, avec une interface graphique intégrée et conviviale pour améliorer l'accessibilité des utilisateurs. Tous les paramètres d'imagerie et de contrôle du traitement du signal peuvent être ajustés par l'intermédiaire de l'interface, y compris les options de détection et de mesure pour analyser différents paramètres matériels. Enfin, JSM 7401F dispose de logiciels qui permettent de nombreuses fonctions analytiques, y compris l'imagerie topographique, l'imagerie de composition, l'analyse élémentaire et la modélisation 3D. Ce SEM est un instrument polyvalent qui peut être appliqué à divers domaines, comme la science des matériaux, la science naturelle et les semi-conducteurs.