Occasion JEOL JSM 7401F #9229628 à vendre en France

JEOL JSM 7401F est un microscope électronique à balayage (SEM), conçu et fabriqué par JEOL, qui utilise un faisceau d'électrons pour générer des images à haute résolution de la surface d'un échantillon. Le principal composant du SEM est le canon à électrons, qui consiste en un filament qui émet des électrons, une anode et des éléments de focalisation qui accélèrent et focalisent les électrons dans un faisceau. Le faisceau est alors dirigé sur l'échantillon et les électrons réfléchis sont recueillis pour former une image. JEOL JSM-7401F possède une colonne électronique de haute qualité qui peut atteindre des performances stables pendant le processus d'imagerie. Il dispose également d'un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) qui peut détecter l'énergie des électrons produits. Le détecteur EDS permet à l'utilisateur de distinguer les différents éléments présents dans un échantillon et ceci est utile pour l'analyse des matériaux. Le JSM 7401 F possède plusieurs caractéristiques qui le rendent adapté aux applications de recherche et de développement. Une de ces caractéristiques est l'imagerie haute résolution (jusqu'à 0.5nm), qui permet de réaliser des études détaillées des surfaces et des structures intérieures. Le SEM présente également un mode à vide faible, qui permet à l'utilisateur de fonctionner à un niveau de vide inférieur, permettant l'examen de matériaux non conducteurs à des vitesses relativement rapides. En plus des capacités d'imagerie, le SEM possède également une caractéristique connue sous le nom d'imagerie à pression variable. Ceci permet de faire passer les conditions opératoires de vide élevé à vide faible et les électrons peuvent alors pénétrer davantage dans l'échantillon avant d'être réfléchis. JSM-7401F est également conçu pour être convivial. Le SEM dispose d'un appareil photo numérique et d'un écran qui permet à l'utilisateur de surveiller facilement les échantillons pendant le processus de balayage. Le SEM dispose également d'un étage automatisé, permettant un positionnement et un balayage précis des échantillons. Dans l'ensemble, JEOL JSM 7401 F est un microscope électronique à balayage très polyvalent qui convient à un large éventail d'applications en microscopie électronique, analyse de matériaux et études de surface. Il dispose d'excellentes capacités et fonctionnalités d'imagerie qui sont conçues pour assurer un fonctionnement efficace et fiable.