Occasion JEOL JSM 7500F #293623399 à vendre en France

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ID: 293623399
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7500F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des capacités analytiques avancées et des performances d'imagerie. JEOL JSM-7500F dispose d'une plage de grossissement flexible allant de 5x à 300.000x, permettant une imagerie précise des détails les plus fins. La conception de colonnes très stable et fiable de JSM 7500F garantit des images précises avec une résolution supérieure. JSM-7500F utilise une gamme de techniques d'imagerie avancées pour l'analyse détaillée. Il s'agit notamment de l'imagerie électronique secondaire classique (SE), de l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), de la microanalyse aux rayons X et de l'imagerie cathodoluminescente (CL). En utilisant une combinaison des différents modes d'imagerie, on peut observer la composition, l'épaisseur et d'autres propriétés des échantillons. JEOL JSM 7500F est équipé d'une chambre à vide conçue pour maintenir un environnement à vide élevé pendant le fonctionnement. Cela aide à prévenir les dommages thermiques aux spécimens délicats et préserve l'intégrité organique de l'échantillon. De plus, le SEM dispose également d'une conception à faible vibration pour réduire le risque de dérive des échantillons et améliorer la qualité de l'imagerie. Le microscope est utilisé à l'aide d'une interface utilisateur intuitive, permettant aux utilisateurs de naviguer facilement à travers les fonctionnalités et les paramètres. Le logiciel est capable de fonctionner automatiquement et peut exécuter de grands lots d'images tout en fournissant des retours sous forme d'images et de statistiques. Pour les utilisateurs avancés, le microscope est également compatible avec divers autres outils et accessoires tels que les logiciels de traitement d'image. JEOL JSM-7500F offre d'excellentes capacités de capture d'image, avec des options d'imagerie haute vitesse pour capturer les changements rapides dans les échantillons. En outre, JSM 7500F prend également en charge une multitude de fonctionnalités d'automatisation avancées telles que le fonctionnement autonome, l'échange d'échantillons et la mise au point automatique. Cela rend l'instrument adapté à une variété d'applications et facilite le traitement rapide des échantillons. En bref, JSM-7500F est un microscope électronique à balayage flexible et fiable qui fournit d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse. Avec son interface utilisateur intuitive, de puissantes fonctionnalités d'automatisation et des techniques d'imagerie avancées, JEOL JSM 7500F est un outil de recherche puissant pour tous ceux qui recherchent une analyse détaillée des échantillons.
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