Occasion JEOL JSM 7500F #293641220 à vendre en France

JEOL JSM 7500F
ID: 293641220
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
JEOL JSM 7500F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour l'imagerie avancée et l'analyse des caractéristiques de surface et d'échantillon. Ce SEM est équipé d'une série de capacités d'imagerie et d'analyse avancées, y compris le balayage d'échantillons d'étape pour la visualisation détaillée de la surface, la colonne électronique multifaisceaux pour l'imagerie simultanée de zones multiples, et la capacité d'analyser un large éventail de matériaux allant des métaux et semi-conducteurs aux composés organiques. JEOL JSM-7500F est très sensible, avec une colonne électronique qui offre une tension d'accélération maximale de 30 kV, et un équipement d'acquisition de données à grande vitesse. Le système offre un maximum de 60 images par seconde, et une taille d'image jusqu'à 2000 x 2000 pixels. Il dispose également d'une unité de cartographie à rayons X haute vitesse pour l'imagerie précise des matériaux. En outre, la machine est équipée d'un étage d'échantillonnage contrôlé par ordinateur de haute précision pour une position précise de l'échantillon. JSM 7500F possède également des capacités analytiques avancées, y compris la spectroscopie EDS/EDX, qui permet l'analyse spectroscopique simultanée d'un échantillon avec une cartographie élémentaire à haute résolution. Il permet également l'imagerie de rayons X dispersifs d'énergie avec un faisceau d'électrons pour acquérir des images basées sur l'intensité des rayons X. En outre, JSM-7500F offre un haut degré d'automatisation, avec des fonctionnalités de traitement et d'analyse des images qui permettent la manipulation et l'interprétation des données acquises. Il est également équipé de capacités de mesure EBSD, qui permettent de cartographier automatiquement les structures cristallines et les limites des grains. En conclusion, le microscope électronique à balayage JEOL JSM 7500F est un outil puissant et fiable pour l'imagerie de surface et l'analyse des matériaux. Avec ses puissantes capacités d'imagerie et d'analyse polyvalente, il est idéal pour les laboratoires ou les installations de recherche qui cherchent à analyser des matériaux de complexités variées.
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