Occasion JEOL JSM 7500F #293643351 à vendre en France

JEOL JSM 7500F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) utilisé pour examiner les structures et les surfaces des matériaux. Ce type de microscope fonctionne en émettant un faisceau focalisé d'électrons sur un matériau d'échantillon, puis en recueillant les signaux électroniques qui sont rebondis de l'échantillon. Le microscope est utilisé pour observer à la fois la composition et la structure d'un matériau avec un haut niveau de précision. JEOL JSM-7500F est équipé de quatre lentilles optiques à électrons différentes et est capable d'imagerie haute résolution. C'est l'un des SEM à la plus haute résolution sur le marché, atteignant 1.3nm résolution à 15kV. L'instrument est également livré avec un large choix de détecteurs pour diverses applications, y compris des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés, un détecteur EDX pour l'analyse élémentaire, un détecteur de cathodoluminescence (CL), et un détecteur de haute tension d'accélération précis. Le microscope est équipé d'un étage automatique à grande vitesse qui permet au porte-échantillon de se déplacer et de tourner selon trois axes. Il dispose également d'un système breveté de focalisation automatique « Smart Eye », qui automatise le processus de focalisation, ce qui permet une imagerie plus rapide et des résultats plus précis. En outre, le microscope est capable d'imager des échantillons en fonctionnement à vide réduit, de réduire les effets de charge et de permettre une imagerie haute résolution sans avoir besoin d'un revêtement d'échantillon long. De plus, le microscope est équipé d'une fonction d'acquisition de zone automatique qui effectue automatiquement un relevé d'une large zone d'un échantillon afin d'identifier les régions d'intérêt pour l'imagerie ciblée. Les images collectées peuvent être manipulées avec la suite logicielle à bord, permettant une analyse facile, la préparation de séquences d'images comparées, et l'intégration de plusieurs ensembles de données d'images. Le système est également conçu pour une utilisation facile, avec une unité de contrôle à écran tactile et un large choix d'opérations prédéfinies qui peuvent être rapidement consultées et exécutées par l'utilisateur. JSM 7500F est un outil idéal pour étudier les matériaux dans la recherche et les applications industrielles.