Occasion JEOL JSM 7500F #9356461 à vendre en France
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ID: 9356461
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
LABE Detector
STEM Detector
2010 vintage.
JEOL JSM 7500F est un microscope électronique à balayage automatique (ASEM) qui produit des images très détaillées d'échantillons biologiques et non biologiques par balayage et détection de faisceaux d'électrons générés à partir d'un filament de tungstène. Il est conçu pour l'imagerie haute performance dans de nombreux domaines, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, la science médicale et la métrologie industrielle. JEOL JSM-7500F utilise une gamme de technologies de pointe, telles qu'un canon à émission de champ (FEG), le traitement numérique du signal (DSP) et une application de filtrage de l'énergie (EFTEM) pour l'imagerie haute résolution. Il est basé sur une technologie brevetée appelée technologie d'aberration corrigée de l'aberration (ACAC), où l'aberration causée par la lentille objective du microscope électronique est corrigée en appliquant le système ACAC. Il en résulte une résolution considérablement améliorée des images de l'échantillon. JSM 7500F est équipé du logiciel DIOP (Digital Imaging and Analysis Open Platform), qui permet aux utilisateurs d'acquérir et d'analyser efficacement des images haute résolution d'échantillons. Les utilisateurs ont accès à une gamme de modes d'imagerie tels que SE (électrons secondaires), EDX (rayons X dispersifs d'énergie), EBIC (courant induit par le faisceau d'électrons) et EFTEM (microscopie électronique à transmission par filtrage d'énergie), ainsi qu'à une suite de fonctions de traitement d'images numériques. JSM-7500F est un instrument très durable, fiable et simple à utiliser. Il a un PC courbe et un canon d'émission de champ inclinable (FEG) pour un accès facile à l'échantillon. Il dispose également de fonctions automatisées d'alignement, de numérisation et de focalisation qui facilitent l'obtention de résultats précis par les utilisateurs. JEOL JSM 7500F est idéal pour les utilisateurs à la recherche d'un système d'imagerie polyvalent, puissant et à haute résolution. Ses multiples modes d'imagerie, sa haute résolution et ses capacités d'analyse d'image robustes le rendent adapté à un large éventail d'applications. Il est capable de produire des images à la fois claires et détaillées, permettant une inspection plus approfondie des échantillons. En conclusion, JEOL JSM-7500F est un microscope électronique à balayage haute performance conçu pour une utilisation dans divers domaines. Sa technologie de pointe permet une imagerie précise et détaillée, et ses fonctions automatisées le rendent facile à utiliser. Il convient à de nombreux types d'applications de recherche, de la science des matériaux à l'imagerie médicale.
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