Occasion JEOL JSM 7600F #293653209 à vendre en France

ID: 293653209
Style Vintage: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX Resolution: 1.0 nm at 15kV Accerlating voltage: 0.1 kV-30 kV Magnification range: 25x-19000x Prober current: 1 x 10^-13 order to ≥2x10^-7 A Electron optics: Conical anode gun (Schottky type, in-lens field emission) Probe current range: <1 pA to >200 nA Automatic gun isolation valve Adjustable OL aperture strip Scanning system: Digital scan generator system Digital scan rotation linked to kV and WD Computer eucentric tilt compensation Specimen chamber and stage Vacuum Chilller Detector: Electron detector, Backscatter electron detector Operating system: Windows 7 professional 2009 vintage.
JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des performances maximales. Il intègre de nombreuses fonctionnalités et applications avancées, ce qui lui permet d'être utilisé pour une large gamme d'analyses d'échantillons. Le microscope est très polyvalent et peut être utilisé à la fois dans le vide et dans l'environnement, ce qui le rend idéal pour une variété d'applications de recherche. JSM 7600F utilise la technologie d'optique électronique la plus récente, offrant une résolution et un contraste excellents. La conception électronique de JEOL JSM 7600F est basée sur un champ de vision balayé. Ce diagramme est utilisé pour permettre au microscope de capturer des images à différentes profondeurs focales et angles, ce qui donne des images plus détaillées et très précises. Le motif de numérisation permet également au microscope de générer des images numériques avec un contraste, une résolution et une vitesse améliorées. JSM 7600F comprend également un puissant spectromètre à rayons X (EDX) pour l'analyse d'échantillons. Le spectromètre EDX permet au microscope de détecter et de mesurer la différence de niveaux d'énergie entre les éléments, donnant une analyse élémentaire détaillée de l'échantillon. Ces lectures permettent ensuite d'identifier avec précision les éléments présents dans un échantillon. De plus, le spectromètre EDX permet à l'utilisateur de mesurer et de comparer la concentration d'éléments dans différentes régions d'un échantillon. En outre, JEOL JSM 7600F utilise des logiciels avancés pour le traitement et l'analyse d'images. Ce logiciel permet à l'utilisateur de manipuler et d'analyser facilement des images, de générer des images 3D et de produire des ensembles de données à partir d'un grand nombre d'images. Le logiciel dispose également de fonctionnalités automatisées telles que la focalisation automatique, le champ de vision automatique et les corrections automatiques de dérive de spécimen. JSM 7600F est un instrument multifonctionnel extrêmement puissant qui est idéal pour une variété d'applications de recherche. Sa combinaison d'optique électronique avancée, de spectromètre EDX et de logiciels en fait un outil polyvalent et fiable pour l'analyse d'échantillons. JEOL JSM 7600F est un instrument essentiel pour tout laboratoire étudiant des matériaux ou menant des expériences.
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