Occasion JEOL JSM 7600F #293661547 à vendre en France

JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour un large éventail d'applications, y compris des applications analytiques et de recherche. Il a un design avancé et offre une large gamme de caractéristiques pour répondre même aux besoins les plus exigeants. Au cœur de JSM 7600F se trouve son potentiel d'accélération ultra-haute tension, qui est capable de fournir un maximum de 30 kV pour le fonctionnement. Cette haute tension d'accélération est essentielle pour obtenir les niveaux de haute résolution et de contraste nécessaires aux capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Le microscope a également une conception intégrée intégrant un canon à émission de champ haute performance (FEG) et un système d'imagerie avec plusieurs voies de détection, y compris les électrons secondaires (SE) et les électrons rétrodiffusés (ESB). Cette conception permet de saisir un large éventail d'informations structurelles topographiques et compositionnelles. En outre, JEOL JSM 7600F est équipé d'un système de balayage avancé capable de produire des images avec une résolution latérale allant jusqu'à 2,5 nm. Cette capacité d'imagerie incroyablement haute résolution est l'un des principaux avantages du microscope et est d'une grande utilité dans des applications de recherche telles que les études de spécimens de faible à moyen poids moléculaire, comme les protéines, les virus et les bactéries. Le microscope est également capable de produire des images avec des niveaux élevés de contraste, même à des grossissements élevés, ce qui le rend idéal pour l'imagerie de structures très fines. Ce microscope comporte également un certain nombre d'autres caractéristiques, dont un étage numérique, la focalisation motorisée et les capacités d'alignement automatisé des sources. JSM 7600F est également équipé de commandes numériques automatisées qui permettent aux utilisateurs de personnaliser le microscope au mieux de leurs applications. Ces commandes numériques comprennent des commandes à grande vitesse pour la numérisation et l'analyse, ainsi que plusieurs fonctions de traitement d'image. Le microscope comprend également un système automatisé de décélération du faisceau qui aide à protéger l'échantillon contre les dommages causés par le faisceau d'électrons. Dans l'ensemble, JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage avancé et fiable qui peut être utilisé pour étudier et analyser divers types de spécimens. Il fournit aux utilisateurs un large éventail de fonctionnalités et de capacités, leur permettant d'obtenir les niveaux de résolution et de contraste les plus élevés dans leur imagerie et analyse.