Occasion JEOL JSM 7600F #9037223 à vendre en France
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Vendu
ID: 9037223
Style Vintage: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Field emissions
Complete set includes:
Edax imaging system (Ametek)
Type: Genesis Apex2 XL60
Probes
Detectors
HP workstation
Vacuum system
Closed loop water re-circulator
Low noise current pre-amplifier (Stamford Research)
Mod SR-570
Generation five PSU controller
Assoc. equipment
2012 vintage.
JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage (SEM), utilisé pour l'imagerie et l'analyse de la morphologie de divers matériaux, des échantillons biologiques aux échantillons inorganiques. Les images et les données générées par le 7600F fournissent une très haute résolution, fournissant des informations précieuses aux chercheurs, nanotechnologues et concepteurs de matériaux. Le 7600F est un SEM d'émission de champ, avec un système optique Berylium qui fournit une résolution ultra-élevée jusqu'à 0,2 nm à l'aide de l'électronique de focalisation automatique qui aide à ajuster automatiquement la focalisation à la zone cible. Le système contient un détecteur de rayons X dispersifs (EDX) d'Oxford INCA Energy™ qui permet à l'utilisateur de détecter le rayonnement X émis par l'échantillon pour identifier la composition de l'élément. Il fournit une imagerie haute résolution des plus petites caractéristiques de l'échantillon. En outre, JSM 7600F dispose également d'une haute simultanéité et de capacités de traitement rapide, lui permettant d'images et de traiter de grandes données dans un court laps de temps. Le logiciel embarqué permet à l'utilisateur de contrôler au maximum les conditions SEM et EDX pour la préparation des spécimens, les réglages de grossissement et de contraste, etc. Le dispositif a une plate-forme de machine rigide et robuste, qui est construit pour un fonctionnement continu et augmente la durée de vie de l'équipement. Le 7600F est bien adapté à une gamme d'applications, de l'analyse semi-conductrice à la nanoplottage, pour une variété d'échantillons comprenant des cartes de circuit, des alliages métalliques, des structures cristallines et des composés organiques. Le dispositif ingénieux est également capable d'automatiser le relevé et l'analyse des sites, l'analyse des défaillances et la tomographie. JEOL JSM 7600F allie précision, rigueur et haute résolution pour fournir aux chercheurs et aux concepteurs de matériaux de puissants outils d'imagerie et d'analyse. Avec ses fonctionnalités et capacités avancées, l'appareil est bien adapté à une gamme d'applications, ce qui en fait un atout inestimable pour les laboratoires de recherche et les industries d'ingénierie.
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