Occasion JEOL JSM 7600F #9285263 à vendre en France

JEOL JSM 7600F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui peut être utilisé pour capturer des structures et des surfaces détaillées à haute résolution. Il est équipé d'une source électronique de canon à émission de champ (FEG), ce qui lui permet de fonctionner avec des tensions d'accélération plus élevées, des densités de courant plus élevées et une profondeur de champ plus grande que la plupart des autres SEM. Le microscope est conçu pour fonctionner dans des conditions d'ultra-vide (UHV), ce qui le rend idéal pour l'imagerie d'échantillons diélectriques et organiques. Le microscope est équipé d'un équipement WDS (spectroscopie dispersive en longueur d'onde) qui lui permet d'identifier et de cartographier des éléments à la surface de l'échantillon. Ce système est capable de détecter des éléments tels que le phosphore, le sodium, l'aluminium, le silicium, etc., et est utilisé pour l'analyse des matériaux. Il possède également une unité EBSD (electron backscatter diffraction), qui peut déterminer la structure cristalline de l'échantillon. JSM 7600F est capable de produire des images haute résolution grâce à sa machine de détection très sensible. Ses détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés, combinés à son objectif haute résolution, sont capables de capturer les caractéristiques fractionnaires de microns sur l'échantillon. De plus, l'outil EDX (spectrométrie à rayons X dispersifs en énergie) du microscope peut être utilisé pour déterminer la composition de l'échantillon. JEOL JSM 7600F est capable de différents modes d'imagerie, y compris SEM, TEM (microscopie électronique à transmission), et STEM (microscopie électronique à transmission à balayage). Le microscope est également équipé d'un étage de plaquette automatisé, qui permet une imagerie à grande échelle sur plusieurs surfaces. JSM 7600F a une grande chambre qui permet de grandes tailles d'échantillons, ainsi que des systèmes automatisés de transfert d'échantillons qui peuvent charger les échantillons facilement et rapidement. Enfin, le microscope est livré avec une suite de logiciels avancés, qui permet aux utilisateurs de contrôler, surveiller et analyser les images. Ce logiciel est capable de créer des images 3D à partir de plusieurs images SEM et fournit des outils de visualisation et d'analyse améliorés.