Occasion JEOL JSM 7800F #293616742 à vendre en France

JEOL JSM 7800F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui combine une imagerie ultra haute résolution inégalée avec une gamme de capacités analytiques puissantes. L'architecture de colonne avancée de JEOL JSM-7800F permet l'imagerie et l'analyse simultanées dans tous les modes de fonctionnement, fournissant une haute résolution et un contraste élevé avec de faibles doses d'électrons. Les commandes d'exploitation bien conçues et l'interface utilisateur graphique conviviale (UI) permettent aux opérateurs de tirer le meilleur parti de l'imagerie haute résolution de JSM 7800 F. Les fonctions de tirage polyvalentes, le contrôle d'exposition automatique puissant et les capacités chromatiques et autofocus intégrées contribuent tous à assurer le succès avec des opérations exigeantes et exigeantes. JSM 7800F peut être configuré avec un choix de détecteurs qui permettent à l'opérateur de choisir la meilleure configuration du système pour l'application prévue. Des détecteurs d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffusés (ESB) et d'électrons dans les lentilles (IL) sont disponibles en tant qu'options standard et des détecteurs de temps de vol (TOF) peuvent être ajoutés pour l'analyse élémentaire. Les détecteurs supplémentaires comprennent un détecteur à faible angle pour l'analyse des nanostructures, un détecteur à angle élevé pour l'analyse des surfaces d'oxyde et une gamme de détecteurs pour la mesure d'éléments spécifiques. JEOL JSM 7800 F est conçu pour être incroyablement polyvalent, couvrant une large gamme de tailles d'échantillons, de formes et de matériaux. Une large gamme de porte-échantillons permet un chargement optimal des échantillons et un positionnement stable des échantillons. L'anode échangeable fournit une résolution microscopique ultra-nette, idéale pour étudier les caractéristiques microstructurales et nanométriques. Le filtre d'énergie en colonne ajoute également de la souplesse pour assurer un contraste optimal de l'image. JSM-7800F est également fourni avec des capacités de visualisation vidéo et d'imagerie numérique, permettant un chargement d'échantillons plus rapide et un balayage contrôlé par ordinateur pour une analyse en plusieurs étapes gérée avec précision. JEOL JSM 7800F peut également être intégré à une gamme d'équipements périphériques tels que les caméras film/cine, les microscopes confocaux à balayage laser et les microscopes à balayage tunnel. Dans l'ensemble, JEOL JSM-7800F offre une haute résolution, un balayage et un échantillonnage ultra-rapides, ainsi qu'une large gamme de polyvalence et de flexibilité. L'architecture avancée des colonnes produit une imagerie ultra haute résolution, à faible dose d'électrons, tandis que le choix des détecteurs et de l'anode échangeable fournit une imagerie de haute qualité pour une large gamme de matériaux. De plus, l'interface graphique et les capacités d'imagerie numérique intégrées permettent un chargement plus rapide des échantillons et des opérations contrôlées par ordinateur pour l'analyse en plusieurs étapes.