Occasion JEOL JSM-7800FLV #293664356 à vendre en France

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ID: 293664356
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Type: Low vacuum SM-53210RLV / Retractable LV system 2 SM-71481T1A2-7800F / 5-Axis motor drive stage type 1A2, (86mm Cov.XYR) SM-71031SE2A-7800F / Specimen exchange airlock type 2A, 100mm x 40mm JU2013785 / Deben chamber scope, PIP version SM-73012TMP / Turbo molecular pump LX1-AIR / Water chiller air cooled SM-84030SRBE / Retractable BE detector DEBEN-BSE-78R / DEBEN, Retractable motorised 4-quadrant solid state - / Backscatter detector with 18mm ULkV diode 51P1000-51D1005 / Standard EDS System, X-Max 50, 50 mm, 127eV JU2014377 / Environmental cell sample loader option for FE-SEM JU2015273 / Environmental cell sample holder, Stainless steel JU2014869 / DENTON Desk-V Sputter coater JU2014776 / SHARPENER Electric 1/4", 1/8", 3/16" Carbon rods CAR001-0057 / - JU2007170 / Carbon rod accy JU2003032 / Reduced section carbon rods box 100 CAR001-0024 JU2007744 / Gold/Palladium target TAR001-0159.
JEOL JSM-7800FLV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et les performances supérieures en microscopie. C'est un outil fiable et précis pour la recherche de microstructures, offrant les capacités de résolution et de grossissement les plus élevées à ce jour. L'équipement dispose d'une grande chambre de 70 mm en céramique Electro-Glas, permettant une visualisation haute résolution des objets de l'échelle nanométrique à l'échelle macro. Ceci est encore renforcé par l'incorporation d'une source d'électrons d'émission de champ qui fournit des faisceaux d'électrons extrêmement brillants et stables, permettant d'obtenir des résultats plus précis. De plus, le système antivibratoire intégré ajoute un degré supplémentaire de stabilité et minimise les risques d'erreurs. Le SEM dispose également d'une gamme robuste d'outils d'imagerie, permettant aux utilisateurs de visualiser leurs échantillons avec la plus grande précision et le plus de détails. Il comprend une unité d'imagerie optique avancée avec des technologies STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) et EDX (energy dispersive X-ray) pour l'imagerie tridimensionnelle inégalée. Les capacités STEM permettent aux utilisateurs d'étudier les composants des échantillons au niveau atomique, tandis que les caractéristiques EDX permettent l'analyse élémentaire et les informations de concentration associées. Pour plus de commodité, JSM-7800FLV est également livré avec une machine de transfert de spécimens entièrement automatisée qui est à la fois facile à utiliser et fiable. Cela élimine la nécessité de processus manuels coûteux et permet à l'utilisateur de se concentrer sur les aspects créatifs de la conduite de la recherche. Dans l'ensemble, JEOL JSM-7800FLV est un microscope électronique à balayage efficace, polyvalent et fiable. Ses capacités d'imagerie optique avancées et son outil automatisé offrent aux utilisateurs des performances d'imagerie supérieures et la capacité d'analyser leurs échantillons avec précision et précision. Cela fait du SEM un outil idéal pour les activités de recherche de toutes sortes, de la science des matériaux aux applications biomédicales.
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