Occasion JEOL JSM 810A #293592662 à vendre en France

JEOL JSM 810A est un microscope électronique à balayage (SEM) adapté à une grande variété d'applications dans les sciences de la vie et de la physique. Ce type de SEM est devenu un outil essentiel pour l'analyse d'échantillons, l'imagerie et la caractérisation dans les domaines de l'ingénierie des nanomatériaux, le diagnostic médical et le développement de médicaments, la science des matériaux et bien d'autres domaines. Conçu avec des performances supérieures et une précision sans précédent, JSM 810A dispose d'une colonne sous vide ultra-haute avancée, redessinée pour minimiser les pertes d'énergie, et une optique électronique améliorée, ce qui donne des capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse des particules. JEOL JSM 810A propose une gamme de techniques de caractérisation d'échantillons telles que l'EDX (spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie), l'EBSD (diffraction de rétrodiffusion d'électrons), le WDD (détecteur de champ sombre grand angle) et le STEM (microscopie électronique à balayage/transmission), pour n'en citer que quelques-uns. Ces techniques fournissent des informations précieuses sur la composition élémentaire et la structure des échantillons. Le SEM permet également l'évaluation d'échantillons tridimensionnels avec des capacités d'observation 3D haute définition telles que l'imagerie SEM haute résolution et la couture automatique. Ce dernier élimine le processus fastidieux de piquage manuel des images et l'erreur potentielle qui y est associée. En outre, JSM 810A est équipé de différents modes d'imagerie, permettant aux utilisateurs de personnaliser leur expérience pour répondre au mieux aux exigences de leur application. JEOL JSM 810A permet également aux utilisateurs d'acquérir une variété de spectres tels que EDX, EBSD et émission secondaire/tertiaire d'électrons (TEE). L'acquisition de spectres est améliorée avec son détecteur haute vitesse, haute résolution et électronique contrôlée par ordinateur. Les données TEE peuvent être utilisées pour offrir une cartographie élémentaire sous-superficielle de l'échantillon. JSM 810A est livré avec une interface utilisateur intuitive pour simplifier le processus de collecte et d'analyse des données. Sa conception ergonomique facilite grandement l'accès et la manipulation des fonctions de l'instrument, tout en leur fournissant une vaste documentation à l'écran sur les paramètres d'imagerie, les applications et l'analyse des données. Dans l'ensemble, JEOL JSM 810A est un SEM avancé adapté à une vaste gamme d'applications. Son optique électronique supérieure, ses multiples capacités de collecte de spectres et ses algorithmes avancés de traitement d'images en font un choix idéal pour les utilisateurs qui ont besoin d'effectuer une analyse haute résolution de leurs échantillons.