Occasion JEOL JSM 820 #9200141 à vendre en France

JEOL JSM 820 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie de précision à l'échelle nanométrique. La conception de cet instrument est optimisée pour diverses applications, y compris l'imagerie de spécimens biologiques et l'imagerie topographique 3D d'une gamme de matériaux. Il a d'excellentes capacités d'énergie d'électrons basse tension, permettant de capturer des images à très basse tension avec une haute résolution. Cela permet de minimiser les dommages aux spécimens lors de l'imagerie d'échantillons délicats. JSM 820 offre également des capacités d'imagerie numérique, y compris une caméra disponible qui peut produire des images gris 16 bits pour la visualisation précise des surfaces d'échantillons. Le microscope dispose également d'une résolution tache minimale jusqu'à 2nm et son mode de balayage tache permet de scanner des zones jusqu'à 250 x 250 μ m. JEOL JSM 820 est livré avec une large gamme de détecteurs dans les lentilles pour la collecte de signaux multiples, y compris les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (ESB) et les rayons X. Ces détecteurs d'électrons offrent une gamme extrêmement large en termes de sensibilité et de dynamique maximale. L'un des attributs les plus pratiques de JSM 820 est sa grande chambre d'échantillonnage - avec un jeu de hauteur de l'échantillon jusqu'à 67 mm - qui permet de charger facilement de grands échantillons au microscope afin qu'ils puissent être manipulés sans avoir à les retirer de la chambre. En outre, JEOL JSM 820 offre un système de transfert automatisé d'échantillons équipé avec des capacités de chargement automatisé des échantillons qui aident à réduire le risque de contamination des échantillons. Avec ses puissantes capacités d'imagerie et ses performances fiables, JSM 820 est un SEM idéal pour une variété d'applications. C'est un choix particulièrement fiable pour ceux qui s'intéressent à l'imagerie de spécimens délicats sans causer de dommages, ou à l'imagerie de grandes surfaces avec une résolution tache minimale de 2nm.