Occasion JEOL JSM 820 #9287783 à vendre en France

ID: 9287783
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 820 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute résolution des objets jusqu'à l'échelle nanométrique. Il utilise un filament de tungstène pour générer un faisceau d'électrons qui est focalisé et dirigé sur l'échantillon à examiner à l'aide de lentilles électrostatiques et électromagnétiques. L'échantillon doit être complètement chargé pour être balayé, ce qui se fait par bombardement d'un faisceau d'électrons secondaire. Ceci provoque l'émission d'un nuage d'électrons secondaires par l'échantillon, formant une image qui est affichée sur le processeur d'image du microscope. JSM 820 a une vitesse de balayage rapide qui lui permet de produire des grossissements jusqu'à 100.000 fois sa taille d'origine, ce qui le rend capable de détecter même les plus petits détails de la surface d'un objet. Sa gamme de modes d'imagerie permet également aux utilisateurs d'examiner une gamme d'échantillons, des surfaces absorbantes de lumière aux surfaces non conductrices. Le microscope dispose d'un étage automatisé, qui fournit une localisation précise des échantillons, et est équipé d'une caméra numérique pour la capture d'images de spécimens. JEOL JSM 820 est également capable de recueillir des données de l'échantillon, ce qui lui permet d'être utilisé pour mener diverses expériences, y compris l'analyse élémentaire. Il est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) qui mesure l'énergie des rayons X émis par l'échantillon lorsqu'il est soumis à un faisceau d'électrons. Cela permet au microscope de déduire la composition élémentaire de l'échantillon. En outre, JSM 820 peut être configuré pour la tomographie automatique, permettant aux utilisateurs de construire des images tridimensionnelles de l'échantillon. En résumé, JEOL JSM 820 est un puissant microscope électronique à balayage, qui peut être utilisé pour examiner des objets jusqu'à l'échelle nanométrique. Sa combinaison d'imagerie haute résolution et de localisation automatique des échantillons en font un excellent choix pour l'analyse et l'expérimentation haut de gamme. Grâce à ses capacités de tomographie automatisée, il peut également être utilisé pour créer des reconstructions tridimensionnelles de spécimens.
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