Occasion JEOL JSM 820 #9373249 à vendre en France

JEOL JSM 820 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour analyser la morphologie, la composition et la cristallographie des matériaux. Il fonctionne à une tension de 0,1 à 30 kV et à un courant de sonde nominal allant jusqu'à 200 nA, fournissant à la fois une imagerie haute résolution et une identification élémentaire. Le SEM utilise une source de canon à émission de champ (FEG), qui est stabilisée thermiquement pour assurer une performance d'imagerie constante et maintenir une excellente résolution sur plusieurs balayages. Il peut également être utilisé pour la microanalyse et peut être équipé d'un détecteur de rayons X, EDX (energy dispersive x-ray analysis) système, et une variété de sondes pour caractériser une gamme de matériaux. Le JSM 820 offre une large gamme de distances de travail, allant de 4mm à 30, 40 ou 60 mm, permettant des champs de vision plus larges. La chambre reflétante est équipée avec un stade de traversée motorisé qui permet à l'échantillon sous l'enquête d'être déplacé horizontalement et verticalement à travers la fenêtre d'échantillon avec l'assistance de 12 μm marchant des moteurs. Les examinateurs peuvent également utiliser la fonction d'itérateur de puissance, qui permet d'ajuster les paramètres du microscope pendant l'analyse pour obtenir des images et des résultats précis. Le microscope offre plusieurs façons de refroidir l'échantillon, y compris l'azote liquide, l'hélium liquide, le refroidissement par jet d'eau, et le refroidissement eutectique, pour prévenir les dommages de l'échantillon pendant l'imagerie. JEOL JSM 820 dispose de multiples fonctions automatisées telles que le piquage d'image semi et entièrement automatisé, la programmation macro automatisée et le piquage et compostage automatisés. Les paramètres et paramètres de l'image peuvent être facilement ajustés en utilisant une configuration automatisée des paramètres de l'image et sauvegardés pour les futures sessions d'imagerie. De plus, pour les utilisateurs ayant des exigences SEM spécialisées, le logiciel du microscope prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, dont le mode information, le mode kV faible et l'analyse de particules uniques (ASP). JSM 820 est conçu à des fins pratiques et de recherche, fournissant des mesures précises et des images précises. Avec sa construction durable et ses performances précises, il peut fournir des résultats adaptés à la recherche sur les ressources et l'énergie, ainsi qu'à d'autres domaines scientifiques tels que la science des matériaux et l'ingénierie.